芯片视觉检测的定位算法及实现

本文针对半导体芯片检测中芯片的识别与定位问题,采用梯形分层搜索的序贯相关判决算法的匹配策略,在执行时间增加很小的情况下显着提高了精度。通过实例表明,该算法很好地实现了目标图像的识别与定位,保证了后续各项检测的实时性、准确性与可靠性。