基于高光谱技术的苹果损伤检测装置设计

以苹果为研究对象,基于高光谱成像技术对苹果的机械损伤进行检测,设计了以挑选出的529 nm、622 nm和970 nm这3种波长的点光源半导体激光器作为光源,实时采集3种波长下的苹果图像,并检测标记损伤区域的采集检测装置。系统使用SVM分类算法,利用Matlab GUI制作图像检测界面,判断拍摄区域是否存在损伤,并将判断为损伤的区域标记到苹果图像中。本采集检测装置可以实现3种波长下图像的自动采集和保存,并能基本完成苹果损伤的初步检测。