硅酸镥γ图像转换屏荧光弥散特性研究

分析LSO无机闪烁晶体中荧光弥散的原理。采用蒙特卡罗方法,将荧光弥散分为γ光子在LSO闪烁体中转化为次级电子并沉积能量,以及沉积能量转换为荧光光子在闪烁体中输运2个过程进行模拟。其中,前一过程采用MCNP蒙特卡罗程序模拟,后一过程的模拟计算由自编蒙特卡罗程序实现。给出了闪烁体的点扩散函数,计算结果与刀口法实验测量得到的点扩散函数相吻合。采用该方法计算了不同入射γ射线能量和各种厚度闪烁体下的点扩散函数。数据结果表明:点扩散函数的FWTM(full width at tenth maximum)随着γ射线能量的增大先减后增,并逐渐趋于稳定,还随着闪烁体厚度的增加而逐渐增大,文中给出了呈现这种变化规律的原因。

高精度测量射线荧光转换屏YAG晶体的点扩散函数

从理论和实验两方面研究了伽马射线荧光转换屏YAG晶体的空间分辨的影响因素,建立了高精度直接测量射线荧光转换屏点扩散函数的新方法.理论分析了伽马射线与YAG晶体作用产生次级电子对空间分辨的影响,采用蒙特卡罗程序计算了伽马射线荧光转换屏的空间分辨.使用高灵敏度图像记录系统记录了伽马射线与荧光转换屏YAG晶体作用产生次级电子在出射面上的投影.采用双针孔准直屏蔽体组成的等效超细长厚针孔对钴辐射源进行准直屏蔽,形成了准平行点辐射源射线束,直接获得了射线荧光转换屏的点扩散函数.测得的点扩散函数在半径为12 mm处,相对强度急剧下降为0.1%,并在半径为40 mm位置处逐渐降低为0.08%.

γ射线荧光转换屏图像超分辨重建

γ射线荧光转换屏的点扩散丽数是导致辐射源图像空间分辨降低的主要因素,依据点扩散函数对实验获取的辐射源图像数据进行超分辨重建是辐射源图像后期处理的必要步骤。使用两个针孔准直器建立等效超细长针孔对大面积辐射源进行准直屏蔽,获得了准平行点辐射源射线束,建立了直接测量射线荧光转换屏点扩散丽数的实验方法,其测量精度可达8×10^(-4)以上。使用Lucy-Richardson方法对已知尺寸的辐射源图像进行超分辨重建,最终获得了辐射源的高精度轮廓边界。

X射线荧光无损法测定掺钕矾酸钇晶体中的钕

本文利用X射线荧光能谱仪,外标法定量检测掺钕矾酸钇晶体中的钕,在不破坏晶体情况下,检测结果能满足要求。外标法进行定量检定其准确性取决于仪器稳定的工作条件,样品制备粒度是否一致等外界因素。采用样品基体元素线为内标线,消除干扰因素,该方法的标准偏差小于0.02%,与等离子发射光谱法进行比对,偏差小于0.05%。

采用新型喷砂磨料改善高温合金铸件表面质量

本文简述了使用一种新型磨料球形砂（ARSAND）替代传统喷砂磨料，对一些对表面质量要求较高并采用荧光检验的高精密铸件进行喷砂的方法。该方法可显著消除经荧光检测出现的弥散点状表面缺陷，有效降低了铸件返修率、报废率。