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荧光研究装置光测量系统的波长刻度
被引量:
1
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作者
郭建军
杜泉
刘备书
《四川工业学院学报》
2000年第3期76-78,共3页
在 30 0nm~ 90 0nm范围内对荧光研究装置光测量系统进行波长刻度 ,并拟合出光波长刻度的外推公式。
关键词
荧光研究装置
光测量系统
波长
刻度
原子分子
激光态
寿命测量
下载PDF
职称材料
题名
荧光研究装置光测量系统的波长刻度
被引量:
1
1
作者
郭建军
杜泉
刘备书
机构
四川工业学院电子信息与电气工程系
出处
《四川工业学院学报》
2000年第3期76-78,共3页
文摘
在 30 0nm~ 90 0nm范围内对荧光研究装置光测量系统进行波长刻度 ,并拟合出光波长刻度的外推公式。
关键词
荧光研究装置
光测量系统
波长
刻度
原子分子
激光态
寿命测量
Keywords
light measuring system
wavelength
calibration
分类号
O562.3 [理学—原子与分子物理]
O433.1 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
荧光研究装置光测量系统的波长刻度
郭建军
杜泉
刘备书
《四川工业学院学报》
2000
1
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职称材料
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