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硅量子点中电子的荷电动力学特征 被引量:4
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作者 袁晓利 施毅 +5 位作者 杨红官 卜惠明 吴军 赵波 张荣 郑有炓 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第10期2037-2040,共4页
利用频率依赖电容谱的测量 ,对于SiO2 /硅量子点 /SiO2 /硅衬底隧穿电容中硅量子点的荷电特征进行了研究 .由于量子点的极小尺寸和良好的均匀性 ,室温下在强反型区成功地观察到了与单电子隧穿相关的两个电容和电导共振峰 ,它们分别对应... 利用频率依赖电容谱的测量 ,对于SiO2 /硅量子点 /SiO2 /硅衬底隧穿电容中硅量子点的荷电特征进行了研究 .由于量子点的极小尺寸和良好的均匀性 ,室温下在强反型区成功地观察到了与单电子隧穿相关的两个电容和电导共振峰 ,它们分别对应于硅衬底导带上的电子与量子点中第一与第二个基态之间直接隧穿过程 .实验数据分析给出了量子点中的库仑荷电能 ,并进行了讨论 . 展开更多
关键词 量子点 半导体 电子 荷电动力学特征
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