绝缘子葡萄糖污秽的激光诱导击穿光谱检测

污秽成分差异是导致绝缘子沿面闪络特性差异的主要原因,葡萄糖污秽是华南产糖地区特有的特殊污秽。前期研究表明其强吸湿性可使得在较低相对湿度(75%)即可导致绝缘子放电及闪络发生。目前对葡萄糖这类污秽的检测只能采用取样实验室分析,缺乏带电现场分析手段。为此提出利用激光诱导击穿光谱技术,研究了快速鉴别葡萄糖污秽和定量检测方法。试验以13份葡萄糖含量不同的人工污秽为主要研究对象,采集葡萄糖、氯化钠、硫酸钙样品的光谱,输入神经网络进行定性分类鉴别,识别率可以达到88%。利用洛伦兹多峰拟合对葡萄糖污秽光谱进行预处理,定量分析光谱中O元素谱线强度与葡萄糖含量的关系,拟合度达到0.9以上,表明激光诱导击穿光谱技术能够对人工葡萄糖污秽进行鉴别及定量分析。该检测方法能实现现场快速鉴别和定量检测葡萄糖污秽,提升输电线路运行安全维护作业能力,具有重要的工程应用价值。