蔗秆表皮层的SEM-EDAX研究

用SEM EDAX法研究蔗秆表皮层的超微结构及元素组成。结果表明 ,在实验条件下 ,蔗秆表皮层的外表面由C、O、Mg、Al、Si、Cl6种元素组成 ,Si的含量为 30 .464% ;颗粒状物的Si含量为 53 .833 %。蔗秆表皮层径切面中含C、O、Mg、Al、Si、K、Ca 7种元素 ,自外向里各种元素的含量呈规律性变化。表皮层是Si等矿质元素高度密集、超微结构非常复杂的多层结构 ;表皮层中的Si绝大部分在碱法制浆的低温蒸煮阶段就被溶解转移到黑液中 ,残留物几乎为纯C组成。蔗秆表皮层的超微结构、Si等元素的存在状态及脱除机理有待进一步研究。