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Ge薄层异质结构的同步辐射X射线反射法研究
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作者 郑文莉 贾全杰 +1 位作者 姜晓明 蒋最敏 《Beijing Synchrotron Radiation Facility》 2001年第2期187-193,共7页
用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性.根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式:在靠近样品... 用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性.根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式:在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃,而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃,且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响. 展开更多
关键词 同步辐射X射线反射法 薄层异质结构 Ge 半导体材料 表面偏析 分子束外延 晶体薄膜生长
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Effect of BCP ultrathin layer on the performance of organic light-emitting devices
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作者 WANG Hong YU Jun-sheng LI Lu TANG Xiao-qing JIANG Ya-dong 《Optoelectronics Letters》 EI 2008年第5期317-320,共4页
Based on conventional double layer device, triple layer organic light-emitting diodes (OLEDs) with two heterostructures of indium-tin oxide (ITO)/N,N'-diphenyl-N,N'-bis(1-naphthyl)(1,1'-biphenyl)-4,4'-... Based on conventional double layer device, triple layer organic light-emitting diodes (OLEDs) with two heterostructures of indium-tin oxide (ITO)/N,N'-diphenyl-N,N'-bis(1-naphthyl)(1,1'-biphenyl)-4,4'-diamine(NPB)/2,9-dimethyl-4,7-diphenyl- 1,10-phenanthroline (BCP)/ 8-Hydroxyquinoline aluminum (Alq3)/Mg:Ag using vacuum deposition method have been fabricated. The influence of different film thickness of BCP layer on the performance of OLEDs has been investigated. The results showed that when the thickness of the BCP layer film gradually varied from 0.1 nm to 4.0 nm, the electrolumines- cence (EL) spectra of the OLEDs shifted from green to greenish-blue to blue, and the BCP layer acted as the recombination region of charge carriers related to EL spectrum, enhancing the brightness and power efficiency. The power efficiency of OLEDs reached as high as 7.3 lm/W. 展开更多
关键词 电致发光器件 薄层 OLEDS 异质结构
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