掠出射微区X射线荧光分析系统的建立及其在薄膜分析中的应用

建立了应用导管X光透镜的掠出射微区X射线荧光分析系统,并将该系统应用于纳米薄膜的分析。为了提高入射X射线的强度并提高系统的空间分辨率,选用焦斑为41.7μm的会聚透镜对原级X射线进行会聚,并在探测器前加上50μm的狭缝以提高掠出射角扫描的角度分辨率。为了提高工作效率,编写了该系统的自动控制软件,实现了样品的自动扫描。利用该系统对采用金属蒸汽真空电弧(MEVVA)源离子束和薄膜沉积技术制备的纳米薄膜进行了掠入射X射线荧光和二维扫描分析。实验结果表明:该系统能有效地分析纳米厚度的薄膜,通过对薄膜进行掠出射角扫描分析和表面的二维扫描分析,得到了薄膜的厚度,密度及均匀性等信息。微区分析的空间分辨率可达到41.7μm,实际空间分辨率为扫描步长50μm。系统可用于分析薄膜样品,且荧光强度高,所需时间短,获得的信息全面丰富,数据可靠。

飞行时间二次离子质谱——强有力的表面、界面和薄膜分析手段

《真空》杂志是中国学术期刊中重要的核心刊物 ,在加入 WTO后 ,为了更好与国际接轨 ,为广大读作者服务 ,本刊将逐步向双语刊物过渡。在这一期 ,特邀真空界著名学者 :真空杂志编委会副主任、清华大学查良镇教授与曾任德国真空学会主席、第十一届国际真空会议主席和真空杂志社编委会国际顾问 阿·贝宁豪文教授合作撰写的“飞行时间二次离子质谱”一文 ,用双语发表 ,这种改革是否妥当 ,请广大读者赐教。

N&K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用

使用N&K多功能薄膜分析仪对OLED的结构进行分析,对比了不同时间室温老化实验样品的反射率波谱。对反射率进行计算拟合,得到OLED的多层膜结构信息。对相同室温老化实验条件下的完好器件和失效器件的结构进行了对比,发现对于结构为ITO/NPB/Alq3/LiF/Al的器件,主要是Alq3和LiF层发生变化引起器件失效。由此也证明使用N&K多功能薄膜分析仪是OLED失效分析的有效手段。

海洋光学NanoCalc系统可实现精确的薄膜分析

美国海洋光学（Oceanoptics）公司的NanoCalc系统利用光谱反射测量技术，将为半导体、医疗和工业环境等领域的用户提供精确的光学薄膜厚度测量。

薄膜特性的掠发射X射线荧光分析

掠射X射线荧光分析技术是实验室分析薄膜特性的一种重要工具。文章简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种可在实验室里实现薄膜特性测试的掠发射X射线荧光分析装置,该装置采用波长色散方式结合超薄窗流气正比计数管,可实现对轻元素的探测。最后从理论上计算了Si片上不同厚度的几种单层薄膜的X射线荧光强度和掠出射角的依赖关系。证明了掠发射X射线荧光分析是一种精确的分析薄膜厚度等特性的方法。

纳米薄膜分析基础

现代科技正朝着纳米尺度发展，从薄膜材料到场效应管器件，其重点是将其尺寸从微米级降到纳米级。《纳米薄膜分析基础》为配合这一发展，阐述材料表面及近表面几百纳米深度范围内材料的结构、组分等方面的表征。该书侧重于各种表征手段所基于的物理基础。

TPU薄膜分析探秘

TPU薄膜的开发与TPU材料的加工方法密切相关，同时也对原料的性能提出了一些新的要求。由于国内的TPU粒料难以满足加工要求，所以即使国内厂家能生产，也大都是从国外进口TPU粒料。

FP-Multi对热镀锌板镀层及表面薄膜的分析

以基本参数法的薄膜分析软件FP-Multi为基础,建立了热镀锌板镀层成分及厚度的XRF测定方法。采用纯Zn、MG012、IQ＋F、IQ＋C等无限厚样品为参考样品,通过理论计算,测定了钢铁基材热镀锌板镀层及薄膜的成分和厚度。将多种不同分析方法测定的结果进行了对比,证明FP-Multi无标测定方法用于热镀锌表面薄膜的分析是可行的。

X射线衍射仪在薄膜结构分析中的测试方法研究

研究Tl-1223超导薄膜样品面与定位铝板面的关系对XRD测试结果的影响发现,当样品面相对于铝板面在不同方向成夹角时,会得到差异较大的薄膜结构图。由于夹角的不同,呈现不同的结构,这些形态各异的结构图无法准确描述样品的结晶情况,夹角越小测试结果越符合样品的真实结构。常规的使用橡皮泥来固定样品的方法,由于橡皮泥的物理特性,难以一次性测试成功,通常要多次调整样品的摆放位置才能得到合适可用的测试结果,增加了测试工作量。针对此类现象,在测试Tl-1223超导薄膜样品的实践过程中,提出了采用样品静置的方法以及不锈钢代替橡皮泥固定样品的方法。通过该方法,可以解决样品面和定位铝板面的两面共面问题,使其测试结果能够正确反映超导薄膜的生长信息,得到准确可用的结构相图,为后续工作提供良好的指导作用,而且提高了测试效率。该方法可用于其他使用XRD测试薄膜样品的场合,为相关人员在测试过程中遇到同类问题时提供有效的解决途径。

薄膜材料的制备与表征方法研究进展

材料的表面与基体内部在结构和性能上都会存在差异,这就要求对薄膜材料的制备及其表征方法有基本的了解.分析了薄膜材料的分类、常见制备方法及其原理,对材料表面的组分、结构、形貌等分析方法进行了归纳总结,并利用XRD,SEM,EDAX等进行逐项表征,获得了完整的材料表面信息,得出了薄膜材料的工艺制备,采用磁控溅射的方法较好.

卢瑟福背散射分析

对卢瑟福背散射分析的基本原理作了概要的介绍。论述了背散射分析的最佳实验条件、质量分辨率和分析灵敏度。

X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展

按照获得和分辨特征X射线荧光光谱的方式,X射线荧光光谱仪可以分为波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)两大类。依照这一分类,论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展,仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进,在这一基础上,仪器可分析元素的含量范围得到了拓展,方法也得到了丰富。目前,X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法,对这些新方法作以介绍,同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。

干化学法测定正常小儿胆红素组份结果分析

探讨干化学法测定胆红素组份的参考范围 .对 10 0例正常儿童和 2 0例正常成人干化学法胆红素各组份的结果进行统计学分析 .干化学法所测胆红素组份各项结果均无年龄和性别的差异 。

离子束增强沉积氮化硅膜的分析

在电子束蒸发沉积硅的同时用25KeV氮离子进行轰击，在GH37合金表面合成Si3N4膜，用IR、XRS、XRD、TEM和AES-PRO对膜的组分和结构进行综合分析，表明离子束增强沉积（IBED）积成的薄膜之化学式为Si3N4，膜的主要结构是无定形态，局部区域存在少量Si3N4、Si2N4O、SiO2晶体和多晶Si。膜和基体之间存在一个大约50nm的界面混合区。

服用柳氮磺吡啶对干化学法测定胆红素的影响分析

胆红素是血红素的代谢产物，主要来源于衰老红细胞裂解后的血红蛋白。传统重氮法测定胆红素，根据是否与重氮试剂直接反应而将胆红素分为了直接胆红素（DBIL）组分[结合胆红素（Bc）]和间接胆红素（IBIL）组分[未结合胆红素（Bu）]。随着分离技术的提高，出现了一系列非传统重氮法的胆红素检测方法。1980年Kodak多层薄膜分析技术（thinfilmanalysis）问世，该法又被称为“干化学”法。干化学法与传统的湿化学法在对胆红素的认识上有着根本的区别，因此在胆红素组分的划分及检测技术上都有所不同。

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO_2薄膜的组分和厚度

在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99.999%石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的。

电致变色聚苯胺透明薄膜

采用浸渍聚合化学法合成聚苯胺电致变色膜。研究和探讨了单体浓度、聚合时间、反应温度等因素对聚苯胺透明导电膜电学性能及其电致变色性的影响 ,确定了常温下在玻璃基片上直接合成具有电致变色性的聚苯胺膜的最佳工艺条件 ,并用模糊数学层次分析法对试验条件进行分析 ,得到了符合客观实际的多因素试验条件的权数分配。

波长色散X射线荧光分析的新发展

除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。

波长色散X射线荧光分析的新发展

论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法(F P法)目前发展状况的介绍。