基于STM32的高精度薄膜宽度控制仪设计

针对我国国产薄膜宽度控制设备精度不高,设备可靠性低的现状,设计了一种基于STM32F103C的高精度薄膜宽度控制仪。利用反射式红外光电传感器TCRT5000控制薄膜精度并通过线阵CCD在线检测吹膜过程的薄膜宽度,若超出设定范围,则调节PWM波占空比,将塑料薄膜的宽度控制在设定的范围之内。实验表明:该系统提高了塑料薄膜的精度以及系统的可靠性,精度可达0.1 mm。