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薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统 被引量:2
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作者 鄢志丹 孙立东 +2 位作者 胡春光 胡小唐 Peter Zeppenfeld 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第9期309-315,共7页
设计了一套具有一定实用意义和科学价值的薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统,可以实现透明衬底上有机荧光分子薄膜生长的实时原位监测。进一步阐明了系统的硬件构筑思路和软件设计架构,并依据薄膜的形貌特征,给出8个主要生长信息... 设计了一套具有一定实用意义和科学价值的薄膜生长荧光显微图像实时采集与分析系统,可以实现透明衬底上有机荧光分子薄膜生长的实时原位监测。进一步阐明了系统的硬件构筑思路和软件设计架构,并依据薄膜的形貌特征,给出8个主要生长信息参数及其求取算法,并利用自行搭建的实验系统,针对联六苯(p-6P)分子在云母衬底上的纳米纤维生长过程,得出了其准一维的线性生长规律。该系统作为重要的薄膜生长成像监测技术,有望在薄膜与衬底表面相互作用和衬底微区结构特性研究等方面起到积极的作用。 展开更多
关键词 薄膜 荧光显微术 成像系统 图像处理 薄膜生长参量
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Uniformity of Electrical Parameters on MCT Epitaxy Film
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作者 NIELin-ru MENGQing-lan LINan 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2004年第2期93-96,共4页
For Hall measurement under different magnetic fields at LN2 temperature,Hg1-xCdxTe (MCT) film (radius 1 cm) grown on CdTe substrate by LPE is photoengraved into many small Van Der Pauw squares,then their Hall coef... For Hall measurement under different magnetic fields at LN2 temperature,Hg1-xCdxTe (MCT) film (radius 1 cm) grown on CdTe substrate by LPE is photoengraved into many small Van Der Pauw squares,then their Hall coefficients and mobilities are measured and analyzed,respectively.Two films were Hall-tested during the temperature range from LHe 4.2 K to about 200 K.An actual impression on the uniformity of electrical parameters for MCT film can obtained by means of the methods presented in this paper. 展开更多
关键词 MCT film Hall measurement Electrical parameter UNIFORMITY
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