挥发性有机污染场地原位评价的膜界面探测器MIP研究综述

膜界面探测器(Menmberane Interface Probe, MIP)是应用与土壤和地下水挥发性有机污染场地原位勘测的技术设备。近年来被广泛应用于VOCs污染场地勘测中。对MIP的结构、测试原理以及与其相匹配的气相色谱检测器进行了介绍,综述了MIP在国内外污染场地勘测的应用案例,总结了国外学者针对MIP测试精度进行的研究结果。分析表明,MIP原位测试能全面地、真实地反应污染场地挥发性有机物分布状况,减少污染场地勘查成本,提高污染场地勘查效率。通过与其它原位测试探头的结合,可同时对污染场地岩土工程特性进行评价,进而为后续污染场地治理方案的制定提供依据。

薄膜界面探测器在污染场地调查中的应用实例探讨

薄膜界面探测器(Membrane Interface Probe,MIP)现场探测是一种应用于土壤和地下水中挥发性有机物污染现场调查的技术。以上海某机械厂污染场地土壤及地下水污染范围调查为例,使用MIP探测技术对场地内总石油烃污染的空间分布进行了详细调查,建立现场MIP调查污染分布趋势,同时对MIP调查结果与实际土壤和地下水采样检测实验室分析值之间的相关性进行了分析。研究发现,通过MIP和实验室实测值所分别推导出的污染范围相近,相对较高的响应值与实验室测试结果相关系数平方值(0.8762)也表明了MIP现场探测技术能有效、如实地反映场地上挥发性有机污染物质的分布情况。

我国研究人员首次实现碳纳米管-石墨烯复合薄膜高性能光探测器

据报道，最近，南京大学电子科学与工程学院王枫秋教授、徐永兵教授、张荣教授带领的研发团队在新型低维材料光探测器研究领域取得重要进展。石墨烯是零带隙的二维材料，高载流子迁移率及宽带光响应等特性使其成为高性能光探测器的理想材料之一。然而，单层石墨烯较低的吸光率和超快的光生载流子复合过程，严重制约了器件的光响应度。课题组从全碳复合材料界面处丰富的调控自由度和高效的电子迁移出发，提出将一维的碳纳米管和二维石墨烯结合形成“原子层厚”薄膜，将有可能大幅提高器件的工作性能。