正弦调制薄膜的表征及测量误差分析

本文介绍调制薄膜的表征及测量误差分析,主要包括调制薄膜表面形貌的观测、振幅与波长的精确测量及测量误差分析两个部分。实验结果表明,利用本文所述方法可满足对调制膜的精确测量。