材料空蚀表面TEM试样的制备及组织观察

采用单侧电解减薄方法制备了组织稳定和不稳定的两种材料原始空蚀表面的TEM薄膜试样,并对相应的材料空蚀表面组织特征进行了研究.结果表明:单侧电解减薄方法不但适于金属材料空蚀表面TEM试样的制备,也适于磨损、冲蚀情况下材料损伤表面TEM试样的制备,特别是在材料组织不稳定的时候;空蚀使材料表面位错密度大大增加;在奥氏体稳定情况下,空蚀会诱发出宽约10 nm的精细形变孪晶,在奥氏体不稳定情况下,空蚀会诱发γ/ε以及γ/α′转变.

XRFA聚脂薄膜-滤纸试样制备方法的改进

介绍了用于X射线荧光光谱分析（XRFA）的聚脂薄膜-滤纸试样制备改进方法及其效果实验。改进方法制备的试样具有基体效应小、样品用量少、元素分布均匀、试样反复使用不变形和便于保存等优点，特别适用于轻元素测量的试样制备。