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氮化铝共烧基板金属化及其薄膜金属化特性研究
被引量:
5
1
作者
胡永达
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期50-51,共2页
大规模集成电路的发展,对芯片之间的互连提出了更高的要求,高端电子系统中高密度封装技术逐渐成为发展的主流。多芯片组件(MCM)是微电子封装的高级形式,它是把裸芯片与微型元件组装在同一个高密度布线基板上,组成能够完成一定的功能的...
大规模集成电路的发展,对芯片之间的互连提出了更高的要求,高端电子系统中高密度封装技术逐渐成为发展的主流。多芯片组件(MCM)是微电子封装的高级形式,它是把裸芯片与微型元件组装在同一个高密度布线基板上,组成能够完成一定的功能的模块甚至子系统。MCM还能够实现电子系统的小型化、高密度化,是实现系统集成的重要途径,在MCM中高密度布线的多层基板技术是实现高密度封装的关键。
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关键词
基板
薄膜金属化特性
氮化铝
共烧
浆料
聚酰亚胺
分层布线
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职称材料
题名
氮化铝共烧基板金属化及其薄膜金属化特性研究
被引量:
5
1
作者
胡永达
机构
电子科技大学微电子与固体电子学院
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期50-51,共2页
文摘
大规模集成电路的发展,对芯片之间的互连提出了更高的要求,高端电子系统中高密度封装技术逐渐成为发展的主流。多芯片组件(MCM)是微电子封装的高级形式,它是把裸芯片与微型元件组装在同一个高密度布线基板上,组成能够完成一定的功能的模块甚至子系统。MCM还能够实现电子系统的小型化、高密度化,是实现系统集成的重要途径,在MCM中高密度布线的多层基板技术是实现高密度封装的关键。
关键词
基板
薄膜金属化特性
氮化铝
共烧
浆料
聚酰亚胺
分层布线
Keywords
aluminum nitride
co-fire
multi-layer ceramic substrate
matching
sheet resistance
adhesion strength
PI
interface
分类号
TN305.6 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
氮化铝共烧基板金属化及其薄膜金属化特性研究
胡永达
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2003
5
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