0104357功率的数字测量[刊]/蒋锟林//电声技术.—2000,(10).—57～61(L)0104358电子碰撞引起的铜元素 K 壳层电离截面的测量与修正[刊]/周长庚//强激光与粒子束.—2000,12(5).—601～604(L)在电子碰撞的情形下,通过对铜靶的特征 X 射线...0104357功率的数字测量[刊]/蒋锟林//电声技术.—2000,(10).—57～61(L)0104358电子碰撞引起的铜元素 K 壳层电离截面的测量与修正[刊]/周长庚//强激光与粒子束.—2000,12(5).—601～604(L)在电子碰撞的情形下,通过对铜靶的特征 X 射线测量,从而推算出它的 K 壳层电离截面。在实验中采用了薄靶厚衬底新方法。通过电子输运计算,由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。用蒙特卡罗技术对质量厚度为23μg/cm^2的铜靶的多次散射影响作了修正。展开更多
文摘0104357功率的数字测量[刊]/蒋锟林//电声技术.—2000,(10).—57～61(L)0104358电子碰撞引起的铜元素 K 壳层电离截面的测量与修正[刊]/周长庚//强激光与粒子束.—2000,12(5).—601～604(L)在电子碰撞的情形下,通过对铜靶的特征 X 射线测量,从而推算出它的 K 壳层电离截面。在实验中采用了薄靶厚衬底新方法。通过电子输运计算,由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。用蒙特卡罗技术对质量厚度为23μg/cm^2的铜靶的多次散射影响作了修正。
