关于虚公差问题的研究

提出虚公差概念 ,指出虚公差的意义。在虚公差概念的基础上提出解算带补偿件的尺寸链的概率法 ,解释了国标GB5 84 7— 86为什么对有补偿件的尺寸链不推荐“概率法”的原因。从理论上证明了虚公差概念 ,对于带补偿件的尺寸链能用概率法来计算 ,从而为计算机辅助设计装配尺寸链提供了理论依据 。

虚公差现象及其探讨

结合一个实例讨论虚公差 ,认为虚公差存在有其合理性 ,应当正确认识虚公差。

工序尺寸换算中虚公差的产生原因及处理方法

目的:避免工序尺寸换算过程中虚公差现象的产生,提高机械零件加工工艺规程的可执行性。方法:以工艺尺寸链计算中封闭环与各组成环之间的公差分配关系和误差补偿关系为基础,对零件工艺基准和设计基准不重合条件下工序尺寸虚公差产生的原因和工艺尺寸链的改进方法进行了研究。结果:从封闭环的选择、已知组成环尺寸公差的合理压缩以及根据其他组成环尺寸的实际偏差确定工序尺寸公差3方面,提出了工艺尺寸链处理和改进方法。结论:从以上3方面对工艺尺寸链进行处理和改进,可有效避免工序尺寸虚公差现象的发生。

虚公差问题的研究

本文根据实际生产情况,首次提出虚公差概念,指出虚公差的意义,并在虚公差概念的基础上提出由尺寸链基本公式和概率法求解带补偿件的装配尺寸链的基本原理,从而解释了GB/T 58471986《尺寸链 计算方法》为什么对有补偿件的尺寸链不推荐“概率法”的真正原因,没有虚公差概念,对于带补偿件的尺寸链来讲,不可能有真正意义的概率法。

虚公差及其在装配尺寸链中的应用

一、虚公差问题的提出及概念在公差中规定上偏差是尺寸允许的最大值,下偏差是尺寸允许的最小值,只要能保证尺寸不大于上偏差,同时又可保证尺寸不小于下偏差,那么这样的尺寸就可满足公差要求。根据上下偏差的大小,公差可分以下三种情况: 1.上偏差大于下偏差上差减下差即公差。根据定义。

公差值域的扩展及其应用

针对尺寸链计算中会出现上偏差小于下偏差,即负数公差这一现象,基于尺寸公差指允许尺寸的误差(变动)量,并依据负数与正数的本质区别在于它们具有相反意义的量,以及允许尺寸的误差量的相反意义量是补偿尺寸的误差量两个基本概念,对负数公差进行了解释;由此将公差的值域从正数扩展为任意数,也将误差补偿量及补偿范围纳入公差控制的范畴并使其实现了数字化描述,符合新一代GPS公差体系的要求.对负数公差进行解释后,装配尺寸链中的公差与误差补偿量可实现同步计算,便于计算机辅助公差设计,也使概率法计算含补偿件的装配尺寸链的公差更加准确.

广义公差及其应用

把上偏差小于下偏差的公差定义为虚公差,探讨了虚公差存在的理论基础及其意义,从而丰富了公差的内涵而发展为广义公差,更适合计算机辅助公差设计。提出了基于虚公差的装配尺寸链计算方法。

基于广义公差理论的假废品及其废品率的判断

以满足零件精度为出发点,应用广义公差理论统一机械加工中工序尺寸合格品、废品以及假废品区间的计算公式和方法,按概率论对在假废品区间的各尺寸的合格率进行分析计算。

异面异量修配法的尺寸及公差计算

修配法是保证机械装配精度常用的一种方法,对于有些修配件其修配面不止一个,而且修某些面会越修越大,修另外一些面则越修越小,若单独修配某一个面会增大修配量而影响生产效率,因此提出异面修配的新方法,并根据可修配面修配时的难易程度,对其进行合理的修配量分配。基于虚公差概念,推导出这种异面异量修配情况下的尺寸及公差的设计方法,用实例对比验证新方法可以获得较小的修配量,最后通过计算对比修配件不需要修配的概率。结果证明新方法不但可以减小修配件的单面最大修配量,而且修配件不需要修配的概率大大增加,有效提高了生产效率。

修配法尺寸链的分析及其新解法

分析了修配环在修配前后两条装配尺寸链的情况,建立由修配量参与的工艺尺寸链,利用虚公差,提出了求修配环尺寸的一种新方法。

浅谈解装配尺寸链的一种方法

提出了求解装配尺寸链中修配环尺寸的一种新方法。该方法首先建立修配后的装配尺寸链,求出修配后的修配环尺寸,由于它的公差为虚公差,即它的上偏差小于下偏差,将它的上、下偏差交换;再建立由修配量参与的工艺尺寸链,从而求出修配前的修配环尺寸。最后用一个实例说明该方法是正确的。