X射线荧光光谱法分析IC10合金成分

提出了X射线荧光光谱法测定IC10合金的主量元素及控制限元素含量的方法。采用虚拟定值法对限量元素进行定值,用基本参数法(单点标准比较法)对主量元素进行定值。结果表明:主量元素的相对标准偏差(n=11)均小于0.35%;控制限元素的相对标准偏差均小于2.0%。