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基于点蚀试验的7B04铝合金材料点蚀密度研究 被引量:2
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作者 刘治国 韩玉 +1 位作者 朱武峰 吕航 《环境技术》 2017年第4期8-11,共4页
点蚀是航空铝合金材料在服役环境下常见的损伤形式,点蚀的产生极其密度的变化通常会影响铝合金疲劳性能,为此,本文通过开展铝合金点蚀试验的方式,对其点蚀过程中的蚀坑密度变化规律进行建模研究,研究发现,铝合金点蚀过程中蚀坑密度在腐... 点蚀是航空铝合金材料在服役环境下常见的损伤形式,点蚀的产生极其密度的变化通常会影响铝合金疲劳性能,为此,本文通过开展铝合金点蚀试验的方式,对其点蚀过程中的蚀坑密度变化规律进行建模研究,研究发现,铝合金点蚀过程中蚀坑密度在腐蚀前期随腐蚀周期增加,腐蚀后期,蚀坑密度趋于饱和而稳定;滴入溶液方式较浸入溶液方式的点蚀发展较快。 展开更多
关键词 航空铝合金 蚀坑密度 建模
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CdZnTe晶体(111)面、(110)面和(100)面的蚀坑形貌观察
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作者 陈俊 朱世富 +5 位作者 赵北君 高德友 魏昭荣 李含冬 韦永林 唐世红 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第z1期3320-3322,共3页
利用CdZnte晶体晶面夹角之间的关系采用激光正反射法对改进布里奇曼法生长的CdZnTe单晶进行定向,研磨出了CdZnTe单晶体的(111)、(100)面.采用自行研制的HHKA腐蚀液对三个面进行择优腐蚀,得到了(111)、(100)和(110)面的腐蚀照片,并计算... 利用CdZnte晶体晶面夹角之间的关系采用激光正反射法对改进布里奇曼法生长的CdZnTe单晶进行定向,研磨出了CdZnTe单晶体的(111)、(100)面.采用自行研制的HHKA腐蚀液对三个面进行择优腐蚀,得到了(111)、(100)和(110)面的腐蚀照片,并计算出了蚀坑密度(EPD)约为104~105/m2数量级.结果表明生长晶体的质量较好. 展开更多
关键词 晶体生长 蚀坑密度 布里奇曼法 晶体定向
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Cd_(0.80)Zn_(0.20)Te晶体的生长及性能研究
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作者 方军 赵北君 +5 位作者 朱世富 何知宇 高德友 张冬敏 程曦 王智贤 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第6期1293-1296,共4页
用本实验室合成的Ca0.80Zn0.20Te多晶料为原料,采用改进的布里奇曼法在镀碳和未镀碳的石英安瓿中生长出Ca0.80Zn0.20Te晶锭。使用X射线衍射仪对合成产物及晶锭进行了分析,生长晶体的X射线衍射峰尖锐,摇摆谱对称,表明晶锭的结晶... 用本实验室合成的Ca0.80Zn0.20Te多晶料为原料,采用改进的布里奇曼法在镀碳和未镀碳的石英安瓿中生长出Ca0.80Zn0.20Te晶锭。使用X射线衍射仪对合成产物及晶锭进行了分析,生长晶体的X射线衍射峰尖锐,摇摆谱对称,表明晶锭的结晶性能较好;用IRPrestige-21红外光谱仪分析了晶体的红外透射光谱,测试结果表明安瓿镀碳后生长的晶体位错密度小,均匀性较好,电阻率优于未镀碳安瓿生长的晶体;晶体的蚀坑密度在10^3-10^4cm^-2之间,比未镀碳安瓿生长的晶体低1个数量级。 展开更多
关键词 碲锌镉 晶体生长 XRD 红外光谱 蚀坑密度
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Etch-Pits of GaN Films with Different Etching Methods 被引量:1
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作者 陆敏 常昕 +6 位作者 方慧智 杨志坚 杨华 黎子兰 任谦 张国义 章蓓 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第11期1376-1380,共5页
High quality GaN films on (0001) sapphire substrates were grown by a commercial MOCVD system (Thomas Swan Corp.).The etch pits and threading dislocations(TDs) in GaN films have been studied by chemical etching methods... High quality GaN films on (0001) sapphire substrates were grown by a commercial MOCVD system (Thomas Swan Corp.).The etch pits and threading dislocations(TDs) in GaN films have been studied by chemical etching methods such as mixed acid solution (H 3PO 4∶H 2SO 4=1∶3) and molten KOH,HCl vapor etching method,scanning electron microscope (SEM) and transmission electron microscope(TEM).SEM images of the same position of GaN films with HCl vapor etching and wet etching methods show notably different densities and shapes of etching pits.The results indicate that HCl vapor etching can show pure edge,pure screw and mixed TDs,mixed acid solution can show pure screw and mixed TDs and molten KOH wet etching only can show pure screw TDs. 展开更多
关键词 GAN EPD TD
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位错对BBO晶体光学均匀性的影响
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作者 白若鸽 朱镛 陈创天 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期11-14,共4页
本文报道了BBO晶体中位错密度对光学均匀性的影响。样品的光学均匀性是利用W yko RTI 4100型干涉仪进行测量。采用侵蚀法观测BBO晶体{001}面的位错密度,在一定的侵蚀条件下,观察到BBO晶体{001}面上的位错露头为突起的正三方锥形,底边与... 本文报道了BBO晶体中位错密度对光学均匀性的影响。样品的光学均匀性是利用W yko RTI 4100型干涉仪进行测量。采用侵蚀法观测BBO晶体{001}面的位错密度,在一定的侵蚀条件下,观察到BBO晶体{001}面上的位错露头为突起的正三方锥形,底边与X轴平行。在显微镜下测量出样品的蚀坑密度。实验证明,随着位错密度的增加BBO晶体的光学均匀性逐渐变差。 展开更多
关键词 BBO晶体 化学腐 蚀坑密度 光学均匀性
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