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激光成像仪器中的行、场扫描同步控制
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作者 刘光达 邓广福 《吉林大学学报(工学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第5期736-739,共4页
为了提高光点的位置精度,从而提高成像质量,提出了一种基于PWM控制的双光栅反馈的控制方案。基于数字PID原理,利用微处理器和H桥组件LMD18200,构建了全数字化的双芯片同步系统,实现了水平光学扫描和由直流力矩电机驱动的垂直扫描的同步... 为了提高光点的位置精度,从而提高成像质量,提出了一种基于PWM控制的双光栅反馈的控制方案。基于数字PID原理,利用微处理器和H桥组件LMD18200,构建了全数字化的双芯片同步系统,实现了水平光学扫描和由直流力矩电机驱动的垂直扫描的同步控制。该系统结构简单,控制参数完全由软件设定,调整方便。自检方格测试结果证明,相对于开环步进电机驱动方法,同步控制精度从±50μm提高到±20μm。 展开更多
关键词 自动控制技术 激光扫描 PWM 同步精度 数字PID 行、场扫描 双芯片
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