X射线粉末衍射的发展与应用——纪念X射线粉末衍射发现一百年(续前)

3.3粉末衍射法测定晶体结构 3.3.1早期情况 晶体结构测定大致上可分为3大步：第一步,主要依据衍射谱上各衍射线的位置对各衍射线的指数进行标定（简称指标化）,并据此推定晶胞参数和依据衍射指数呈现的系统消光来推定其所属的可能空间群;在此基础上进入第二步,主要求出与各衍射线对应的相位,对衍射强度进行傅里叶变换,以求取各原子在晶胞中的位置参数;开始得到的是不完整、精度不高的结构模型,经过多次迭代计算,

计算机在X射线物相分析中的应用

x射线衍射是研究物质的精细结构的十种工具,这种技术是劳厄在1921年发现了晶体能衍射x射线,并由其衍射的方向揭露出晶体的结构而开始的,起初,x射线衍射系单纯用来测定晶体的结构,但其后则发展了其它用途。至今这种方法不法不但可以用来测定结构,并且还可用来解决像化学分析,应力测量,相平衡的研究,微粒大小的测量,单晶体的取向或多晶聚合体中各种取向总体的测定等各种问题。