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衍射条纹CCD拟合定位方法及其精度分析 被引量：13
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作者 张广军 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期107-109,91,共4页
衍射条纹ＣＣＤ拟合定位方法及其精度分析张广军（北京航空航天大学）０引言电荷耦合器件ＣＣＤ是７０年代发展起来的新型光电器件，它以其线性好、体积小、功耗低、响应速度快及空间分辨率高等优点，已在光衍射测试技术中作为衍射条纹... 衍射条纹ＣＣＤ拟合定位方法及其精度分析张广军（北京航空航天大学）０引言电荷耦合器件ＣＣＤ是７０年代发展起来的新型光电器件，它以其线性好、体积小、功耗低、响应速度快及空间分辨率高等优点，已在光衍射测试技术中作为衍射条纹的探测器件而得到了广泛应用。利用Ｃ... 展开更多
关键词 电荷耦合器件 CCD 衍射条纹定位 衍射测试技术
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