硫醇自组装膜的电化学表观有效厚度

应 用循 环 伏 安 及 交 流 阻 抗 技 术 研 究 了 １８ 烷 基 硫 醇 修 饰 的 金 电 极 在 不 同 浓 度 的 Ｋ３ Ｆｅ（ Ｃ Ｎ） ６／ Ｋ４ Ｆｅ（ Ｃ Ｎ） ６ 溶液中的 电化学 行为，测得 反应的 标准 反应 速率 常数 为～１ ０ － ６ ｃ ｍ ·ｓ － １ ，表观电子 传递系数 为 α＝ ０１５ ，β＝ ０２２ ．提 出自 组装 膜 的电 化学 表 观有 效 厚度 概 念 及计 算 方法 ，应用表观 有效厚 度可以定 量说明自 组装膜 的分子倒 伏或塌 陷的缺陷 程度．

自组装膜的几何厚度与电化学表观有效厚度

根据界面双层电容值可用来判定自组膜的存在 ,也能得到膜的几何厚度 ;但不能说明自组膜的完美程度 .由跨膜电子转移的速度常数 ,可以得到自组膜的电化学表观有效厚度 ,并定量描述非电活性的自组膜 (单分子层膜或双层膜 )中“倒塌”缺陷的程度 .二者数值不同但不矛盾 ,通过计算说明了自组膜中小面积的“倒塌”缺陷决定了跨膜电子转移的速度常数 ,但对自组膜电容的影响不大 .