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发射光谱的表观浓度法
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《光谱实验室》 CAS CSCD 1990年第1期48-48,共1页
1989年11月3-12日在成都举办的全国第四届发明展览会上,自贡市铸钢厂的参展项目"发射光谱的表观浓度法"获得银牌奖。国家专利局于1989年10月18日正式授予专利权(专利号:87103303.8)。"发射光谱的表观浓度法"是姚泰... 1989年11月3-12日在成都举办的全国第四届发明展览会上,自贡市铸钢厂的参展项目"发射光谱的表观浓度法"获得银牌奖。国家专利局于1989年10月18日正式授予专利权(专利号:87103303.8)。"发射光谱的表观浓度法"是姚泰煜同志提出的一崭新方法体系,特别适合于钢铁、金属及其它样品的光电直读光谱分析。发射光谱分析中,基体效应和共存元素干扰严重影响分析的精密度和准确度,直接分析钢铁等块状金属样品时这种影响更加突出。 展开更多
关键词 发射光谱 表观浓度法 金属 分析
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