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运用表面光电压技术对半导体表面光电特性的研究
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作者 刘向阳 张振龙 《烟台师范学院学报（自然科学版）》 2003年第1期64-67,80,共5页
对运用表面光电压技术(SPS)对半导体材料光电性质的研究进行了综述,系统阐述了表面光电压谱(SPS)和场诱导表面光电压谱(FISPS)在测定半导体类型、表面态及其能级位置、表面电荷分布、半导体的能带隙等方面所表现出的优越性质.研究了半... 对运用表面光电压技术(SPS)对半导体材料光电性质的研究进行了综述,系统阐述了表面光电压谱(SPS)和场诱导表面光电压谱(FISPS)在测定半导体类型、表面态及其能级位置、表面电荷分布、半导体的能带隙等方面所表现出的优越性质.研究了半导体能带隙所表现出的特有性质. 展开更多
关键词 半导体材料 表面光电压技术 表面光电压谱 场诱导表面光电压谱 表面态 能带隙
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