表面活性剂临界胶束浓度对洁面产品性能的影响及优化策略

目前大部分市售洁面产品的核心成分多为表面活性剂,而表面活性剂在其临界胶束浓度附近出现一系列性质的变化会对洁面产品的性能产生影响,其中最明显的就是刺激性和残留。通过简要概述表面活性剂临界胶束浓度与洁面性能的联系,从产品配方角度出发,对在产品制备中降低表面活性剂临界胶束浓度的常用方法进行了归纳总结,并介绍了常用临界胶束浓度测试方法的机制及其优劣势,为打造优异性能洁面提供可行性的建议,并对其未来发展方向进行展望。

共轭聚合物m-PPEASO_(3)Na荧光检测非离子表面活性剂临界胶束浓度

折线型水溶性荧光共轭聚合物聚(1-丙氧磺酸基-3,5-苯撑-乙炔撑-9,10-蒽撑),m-PPEASO_(3)Na,其主链骨架在水中及低浓度非离子表面活性剂的水溶液中以螺旋形构象存在,因而在630 nm处表现出很弱的荧光发射。然而一旦水溶液中非离子表面活性剂的浓度增大达到临界胶束浓度以上,荧光发射急剧增强同时有较大的蓝移,这直接指示了表面活性剂胶束的形成过程,提供了测定一些常见的非离子表面活性剂如Brij-35、曲通、吐温临界胶束浓度的简便荧光分析方法。尤其是Brij-35,荧光发射峰蓝移最大达到85 nm,且在紫外灯下裸眼可见明亮的黄绿色荧光。m-PPEASO_(3)Na和表面活性剂胶束之间强烈的疏水相互作用导致聚合物主链螺旋形构象向伸展的无规线团构象转变,作为其结果,聚合物的荧光发射有极大的增强且发射峰蓝移。

双子表面活性剂临界胶束浓度规律研究进展

临界胶束浓度是表面活性剂自聚形成胶束的重要参数。双子表面活性剂是具有双亲水基团、双疏水链的表面活性剂,比常规表面活性剂具有更低的临界胶束浓度和更高的表面活性。了解影响双子表面活性剂临界胶束浓度的内在、外在因素,有助于理解分子间的相互作用,分析碳链和联接基团等分子结构对其性能的影响,探究双子表面活性剂的自组织行为,从而更好地发挥双子表面活性剂的高表面/界面活性,开发新型高效表面活性剂。文中介绍了双子表面活性剂临界胶束浓度常用的测定方法,总结了双子表面活性剂疏水基团、联接基团、亲水基团、温度、无机盐等对双子表面活性剂临界胶束浓度的影响,并对影响结果进行了分析。

定量结构-性质相关原理在阴离子表面活性剂临界胶束浓度预测中的应用

利用定量结构 -性能相关 (QSPR)原理 ,建立起了 8类不同结构 ,计 40个阴离子表面活性剂临界胶束浓度(cmc)的定量模型 .所得到的最佳模型包括 :分子总能量 (ET)、分子生成热 (ΔHf)、分子偶极矩 (D)、前线分子轨道能量 (ELUMO,EHOMO)及憎水基 0级Kier&Hall指数 (KH0 ) ,计 6个描述符 ,复相关系数R2 =0 .9778.

多种类表面活性剂临界胶束浓度定量构效关系(英文)

表面活性剂的临界胶束浓度(CMC)是个非常重要的物质特性参数,CMC在研究表面活性剂的工业应用和生物利用方面发挥着关键作用.本工作提出了一个新的拓扑指数—扩展距离矩阵,建立了一个稳定的构效关系模型,并对175种表面活性剂的临界胶束浓度进行了计算预测.结果表明,基于新的拓扑指数建立的构效关系模型计算临界胶束浓度能给出稳定可靠的预测结果,其预测结果相关性系数R2(trainingset)=0.9295,平均相对偏差ARD(trainingset)=8.20%,R2(testingset)=0.9257,ARD(testingset)=6.76%.与文献中模型预测结果的对比表明,本工作在稳定性和可靠性上均有显著改善.

环糊精对表面活性剂临界胶束浓度的影响

研究了 2 5℃时环糊精作为添加物对 3种表面活性剂临界胶束浓度 (CMC)的影响 ,并通过线性拟合得到了相应的表观临界胶束浓度 (CMC )

表面活性剂临界胶束浓度测定方法的研究进展

本文着重介绍了几种表面活性剂的临界胶束浓度的测定方法,包括测定原理、方法特点,并指出了实验方法的选择及CMC测定方法的发展趋势,为药物生产选择适宜表面活性剂及用量提供可靠的参考标准。

电导法测定阳离子型表面活性剂临界胶束浓度实验研究

采用电导法测定一定温度下不同浓度的十四烷基三甲基氯化铵(TTAC),十六烷基三甲基氯化铵(CTAC),十八烷基三甲基氯化铵(STAC)溶液的电导率值,计算摩尔电导率,研究碳链上碳原子数对表面活性剂临界胶束浓度(CMC)的影响。结果表明:CMC(TTAC)=0.00580 mol/L,CMC(CTAC)=0.0041mol/L,CMC(STAC)=0.0039 mol/L,可知随着碳链上碳原子个数的增多,相应的临界胶束浓度(CMC)呈减小趋势。

金属盐作用下的表面活性剂临界胶束浓度的变化研究

用电导法系统地研究了金属离子———Cu(Ⅱ ) ,Zn(Ⅱ ) ,Co(Ⅱ ) ,Ni(Ⅱ ) ,La(Ⅲ )和Fe(Ⅲ )对两种离子型表面活性剂———十二烷基硫酸钠 (SDS)和十六烷基三甲基溴化铵 (CTAB)的临界胶束浓度 (CMC)的影响 ,并推导了一系列表达金属离子浓度和表面活性剂SDS及CTAB的临界胶束浓度 (CMC)之间关系的经验公式 .结果表明 ,SDS和CTAB的临界胶束浓度 (CMC)均随着金属离子浓度的增加而减小 。

电导法与最大压差法测表面活性剂临界胶束浓度实验比较

采用电导法和最大压差法分别测定十二烷基硫酸钠、十二烷基苯磺酸钠、十二烷基三甲基溴化铵、十四烷基三甲基溴化铵和十六烷基三甲基溴化铵5种表面活性剂的临界胶束浓度(CMC)。实验结果表明,电导法测离子型表面活性剂的临界胶束浓度较最大压差法更为准确,更适合作为本科实验为学生开设。

基于光纤折射率传感原理的表面活性剂临界胶束浓度测定方法

提出并研究了一种新颖的基于光纤折射率传感原理的表面活性剂临界胶束浓度(cmc)测定方法.应用此方法测定有代表性的阴离子表面活性剂十二烷基硫酸钠(SDS)与阳离子表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)在25℃下的cmc分别为8.05×10-3和9.11×10-4mol·L-1,与文献值比较,结果相当吻合.从而证实了本方法的准确性.进一步研究了各种条件对测量表面活性剂cmc的影响,结果表明温度和无机盐NaCl的加入对本方法测量的准确性影响小,证明了本方法对测试环境的要求不苛刻,适用性好.最后对本方法进行了重复性和稳定性测试,相对标准偏差(RSD)为0.17%,与预期符合,效果良好.

一种由超滤膜测定阴离子表面活性剂临界胶束浓度的新方法

表面活性剂临界胶束浓度（ｃｍｃ）是表征表面活性剂胶体电解质性质的重要理化指标．常用的ｃｍｃ测定方法有光散射法、染料法、增溶法、电导法和表面张力法等［１］．这些方法的共同特点是依据表面活性剂在ｃｍｃ附近某些理化性质的突变特性，从发生突变的函数不连续区域...

籍疏水花菁染料的荧光突变测定非离子表面活性剂临界胶束浓度

研究了近红外疏水花菁染料I在几种表面活性剂溶液中的荧光行为.花菁I在水中及含有低浓度(小于临界胶束浓度,CMC)的曲通X-100溶液中表现出很弱的荧光,但当表面活性剂浓度达到CMC时,荧光显著红移并迅速增强到最大.这种荧光突变为曲通X-100的胶束形成提供了直观的指示,可据此建立一种测定其CMC的简单荧光方法.该法还适用于Brij-35的CMC测定,所测的CMC值与文献报道的结果十分吻合.

应用拓扑指数预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度

用拓扑方法研究了阴离子表面活性剂临界胶束浓度cm 与分子结构的关系. 根据分子结构的特点,用距离矩阵表征分子中原子的连接性,据此建立了结构基础明确的模型. 应用该模型预测了不同结构阴离子表面活性剂的 cm,结果表明,预测值满足精度要求,相关因数为0.998 1. 应用该模型,不仅能够合理表征阴离子表面活性剂的结构-性能关系,而且有助于揭示物质结构与性能之间的关系.

溶液中表面活性剂临界胶束浓度降低措施的研究进展

表面活性剂增效技术是近期发展起来并被认为是可对污染地下水进行有效修复的技术之一,但为避免引起新的污染,需控制其投放剂量。综述了通过表面活性剂的优化匹配及水化学组分调节等方式降低表面活性剂的临界胶束浓度,进而实现减少表面活性剂投放量的研究进展,指出其存在的问题,展望其发展前景。

金属盐对双子表面活性剂临界胶束浓度的影响

论文采用电导法研究了在25℃±0.1℃恒温条件下三种不同二价金属离子(Cu^(2+),Zn^(2+),Ni^(2+))的无机盐作为添加剂对两种不同阳离子双子表面活性剂(C_(16)-2-C_(16)·2B^-和C_(16)-5-C_(16)·2Br^-)临界胶束浓度(CMC)的影响。实验结果表明随着二价金属离子无机盐浓度的增加,双子表面活性剂CMC呈逐渐降低的趋势;并且在相同的金属无机盐浓度下,金属无机盐对双子表面活性剂临界胶束浓度(CMC)的影响顺序为Cu(NO_3)_2>Ni(NO_3)_2>Zn(NO_3)_2,这可能归因于金属离子的水化作用;并由实验数据拟合得出了这三种金属离子无机盐影响阳离子双子表面活性剂C_(16)-2-C_(16)·2Br^-和C_(16)-5-C_(16)·2Br的CMC的经验式。

用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度

根据机械振动理论的简谐振动模型 ,将分子作为多自由度振动的弹簧 质量系统处理 ,计算了 4 0个不同类型的阴离子表面活性剂分子的振动固有频率。用其中的基频 (ωo)和总频 (∑ωi)作为分子结构信息参数 ,建立了 4种类型的表面活性剂的定量临界胶束浓度 结构相关性 (QSCMCR)预测模型 :logCMC =A0 +A1ωo+A2 ∑ωi,其相关系数r均大于 0 99。由该模型得到的回归方程用于上述 4 0种表面活性剂分子临界胶束浓度 (CMC)的计算 ,平均绝对误差仅为 0 0 5 88,平均相对误差仅为 0 0 316。

无机盐的存在对阴离子型表面活性剂临界胶束浓度的影响规律

在25℃时用电导法测量加入无机盐(NaCl、Na2CO3、CaCl2、SmCl3)的十二烷基硫酸钠溶液的电导率κ,用作图法得出此类溶液的CMC值。根据CMC的变化可得出无机盐的存在对阴离子型表面活性剂CMC值的影响规律。实验表明,表面活性剂CMC值与无机盐中反离子浓度有如下关系:lgCMC=-2.4-0.085lg[Na+],lgCMC=-2.4-0.051lg[Ca2+],lgCMC=-2.3-0.021lg[S3+m]。同时发现,以上直线方程中的斜率B与无机盐中反离子的电价数Z之间存在如下关系:B=0.116-3.20×10-2Z。

低聚型表面活性剂临界胶束浓度的分光光度法测定

本文在前人的基础上提出了一种采用紫外分光光度法测定低聚型表面活性剂的临界改束浓度的新方法，探讨了不同条件对测定结果的影响，并确立了优化条件。通过对增溶机理的讨论，进一步说明了低聚型表面活性水溶液的特征。

电导法测定聚合物对阳离子表面活性剂临界胶束浓度的影响

用电导法测定了 3-烷氧基 - 2 -羟基丙基三甲基氯化铵以及在聚合物存在下临界胶束浓度的变化规律 .