硅胶表面键合物的正电子湮没谱研究

本文在多孔无定形硅胶的表面上键合了不同极性的化学基因,制成一系列相同基体,但表面基团不同的样品,测定了其正电子湮没寿命谱。发现寿命谱的最长寿命组份随表面键合基不同,寿命值有明显差别。寿命值与基团的极性及基团的体积有关。正电子湮没谱的最长寿命组份能灵敏地表征表面的极性和化学性,可作为表面化学定性分析的有用技术。