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2,5-二芳基取代噁唑衍生物质谱裂分规律的研究
1
作者
李松兰
江邵林
+2 位作者
张法义
孙雁
周一民
《南开大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第3期97-99,112,共4页
用E.I源,作出了十个2,5-二芳基取代唑衍生物的常规质谱,并采用B/E为常数联动扫描,找出了主要质谱峰的子离子,以此研究了该系列化合物质谱裂分规律、共同碎片离子的形成过程、R取代基对化合物质谱裂分规律的影响.
关键词
质谱
裂分规律
恶唑衍生物
二芳基取代恶唑
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职称材料
磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究
被引量:
1
2
作者
陆大荣
梁汉东
+1 位作者
王凯旋
盛守祥
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2011年第2期86-94,共9页
采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图。数据显示,这类除草剂在TOF-SIMS谱图中均出现准分子离子峰和特征碎片离子峰。裂分机理讨论进一步表明,这类除草剂的典型碎片化发生在化合物结...
采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图。数据显示,这类除草剂在TOF-SIMS谱图中均出现准分子离子峰和特征碎片离子峰。裂分机理讨论进一步表明,这类除草剂的典型碎片化发生在化合物结构中酰胺基团的C-N键之间,可获得较大质量片段的碎片化离子以及准分子离子的主要原因是其芳香结构的稳定化作用。结果表明,尽管TOF-SIMS由于其特殊电离方式通常容易导致一般有机分子的高度碎片化,但还是有望用于磺隆类除草剂及其衍生物或降解物的定性检测。
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关键词
磺隆类除草剂
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
裂分规律
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职称材料
题名
2,5-二芳基取代噁唑衍生物质谱裂分规律的研究
1
作者
李松兰
江邵林
张法义
孙雁
周一民
机构
南开大学化学系
出处
《南开大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第3期97-99,112,共4页
文摘
用E.I源,作出了十个2,5-二芳基取代唑衍生物的常规质谱,并采用B/E为常数联动扫描,找出了主要质谱峰的子离子,以此研究了该系列化合物质谱裂分规律、共同碎片离子的形成过程、R取代基对化合物质谱裂分规律的影响.
关键词
质谱
裂分规律
恶唑衍生物
二芳基取代恶唑
Keywords
MS
linked scan
fragmentation pattern
substituent offect
分类号
O626.24 [理学—有机化学]
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职称材料
题名
磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究
被引量:
1
2
作者
陆大荣
梁汉东
王凯旋
盛守祥
机构
中国矿业大学
出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2011年第2期86-94,共9页
基金
国家科技支撑计划(2006BAK03A21)资助
文摘
采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图。数据显示,这类除草剂在TOF-SIMS谱图中均出现准分子离子峰和特征碎片离子峰。裂分机理讨论进一步表明,这类除草剂的典型碎片化发生在化合物结构中酰胺基团的C-N键之间,可获得较大质量片段的碎片化离子以及准分子离子的主要原因是其芳香结构的稳定化作用。结果表明,尽管TOF-SIMS由于其特殊电离方式通常容易导致一般有机分子的高度碎片化,但还是有望用于磺隆类除草剂及其衍生物或降解物的定性检测。
关键词
磺隆类除草剂
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
裂分规律
Keywords
sulfonylurea herbicides
time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS)
fragmentation
分类号
O657.63 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
2,5-二芳基取代噁唑衍生物质谱裂分规律的研究
李松兰
江邵林
张法义
孙雁
周一民
《南开大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
1997
0
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职称材料
2
磺隆类除草剂的飞行时间二次离子质谱研究
陆大荣
梁汉东
王凯旋
盛守祥
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
2011
1
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职称材料
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