基于持续集成的C/C++软件覆盖率测试

覆盖率测试是一种白盒测试方法,软件代码的覆盖率指标是软件开发过程中重要的度量指标。覆盖率测试主要分为两部分:对程序代码进行插桩;编译插桩后的进程文件进行用例测试。首先介绍了Linux环境下C/C++代码覆盖率测试的原理与流程,在此基础上叙述了基于持续集成的软件覆盖率测试原理与流程。详细叙述了覆盖率工程的实现,包括持续集成系统上进行插桩编译、集成构建、插桩数据预处理、HLT测试检查和覆盖率数据处理。代码覆盖率报告提供了软件代码整体覆盖率与新增代码覆盖率的统计数据,反映了软件代码宏观覆盖率信息。测试过程中生成的VBS数据库提供了微观的覆盖率信息。最后介绍了一个典型工作案例,工作实践表明软件开发过程中做好代码覆盖率统计工作,可以有效监控和改进软件源代码的质量,提升软件开发和测试工作。

嵌入式软件覆盖率测试的研究与应用

覆盖率测试是检验软件测试完整性、充分性的重要方式,这里介绍了覆盖率测试基础理论、覆盖率的测试类型、覆盖率测试工作流程、比较了覆盖率测试工具Bullseye Coverage、LDRA TestBed。并通过LDRA Testbed测试工具对被测软件程序插装,分析插装程序输出的结果得到语句覆盖率、分支覆盖率等数据,以达到对软件问题的查找和对测试充分性、全面性的验证。同时给出了Turbo C开发环境下DOS操作系统的嵌入式软件,利用LDRA Testbed进行覆盖率分析和通过查看未覆盖的代码定位软件问题、测试用例覆盖情况的详细步骤。

基于LDRA的嵌入式软件覆盖率测试方法

基于实时嵌入式软件的测试经验，针对实时嵌入式软件特点，研究了基于LDRA的嵌入式软件覆盖率测试方法，分析了程序插装BITMAP技术应注意的问题．提出了单文件和多文件两种方式的覆盖率测试方法。对于嵌入式软件测试，具有实际参考价值。

基于JaCoCo动态覆盖率测试的分析与应用

动态覆盖率测试是目前常用的一种测试技术,利用它能直观的从代码层面判断测试完整性和充分性,从而最大程度的发现软件问题。本文针对Java语言的动态覆盖率测试工具JaCoCo进行实践应用,给出具体的测试过程,并分析对测试充分性和完整性的影响。

基于持续集成的C/C++软件覆盖率测试分析

覆盖率测试在实际上属于白盒测试方法,是评估软件性能的关键。在本次研究中,本文详细介绍了C/C++软件覆盖率测试的方法,在了解测试的基本要求后,对测试的技术要点展开分析,希望为增强软件开发与测试能力奠定基础。

基于多维度覆盖率的软件测试动态评价方法

随着关键领域应用软件规模和复杂性的不断提高,软件测试成本也不断增加.如何动态、定量地评价软件测试情况,提高测试效率是软件测试领域面临的现实问题.提出了一种基于多维度测试覆盖率的软件测试动态评价方法,并从测试监测信息、动态分析和评价模型、测试优化策略几个方面展开讨论.给出了综合测试覆盖率的定义和经验公式.实例显示,该方法有助于软件项目评测人员动态跟踪和定量监控软件测试效果,提高软件测试过程的可观察性和可控制性.

覆盖率驱动的随机测试生成技术综述

随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点之一,其目标是通过覆盖率指导测试向量生成,减少重复测试向量,加速验证的收敛过程,提高验证的自动化程度和效率.文中全面综述了覆盖率驱动的随机测试生成技术的发展历程、研究现状和技术分类,并结合具体实例对各种方法及其面临的主要问题进行了讨论、评价和总结.

考虑测试工作量与覆盖率的软件可靠性模型

为了进一步提升现有非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型的拟合与预计精度,首先,提出一个同时考虑测试工作量与测试覆盖率的NHPP类软件可靠性建模框架.在此基础上,将变形S型测试工作量函数(IS-TEF)以及Logistic测试覆盖率函数(LO-TCF)带入该建模框架,建立了一个新的软件可靠性增长模型,即IS-LO-SRGM.同时,还对利用该框架进行建模过程中的两个重要问题进行了描述与分析,即如何确定具体的TEF和TCF以及模型参数估计.然后,在两组真实的失效数据集上,利用该建模框架建立了最为合适的增长模型,即IS-LO-SRGM,并将该模型与8种经典NHPP模型进行对比.实例验证结果表明,所提出的IS-LO-SRGM模型具有最为优秀的拟合与预计性能,从而证明新建模框架的有效性和实用性.最后,对不完美排错情况进行了初步的讨论与建模分析.

基于Logistic测试覆盖率函数的软件可靠性建模研究

软件测试覆盖率是测试充分性和测试效率的有效度量指标,其与软件可靠性以及缺陷覆盖情况之间有着一定的相关关系,并且结合测试覆盖率信息的软件可靠性模型的评估和预计效果将会得到有效改进.在实际测试过程中,由于软件结构特征及学习因素的综合影响,测试覆盖率可能会呈现出一种先增后减的趋势,Logistic函数恰好非常适合描述这类S形变化趋势,且结构简单,具有较好的灵活性与适应性.因此,针对基于Logistic函数的测试覆盖率函数以及软件可靠性建模等问题展开研究.首先提出基于Logistic函数的测试覆盖率函数;在该函数的基础上,提出基于Logistic测试覆盖函数的缺陷预计模型;然后,将NHPP可靠性模型的建模过程与Logistic测试覆盖函数相结合,提出一种新的考虑测试覆盖率的软件可靠性增长模型.实例验证结果表明:与若干已有的同类研究成果相比,提出的基于Logistic函数的测试覆盖率函数、缺陷预计模型以及软件可靠性增长模型有效地提高了函数或模型对数据的拟和精度,且具有较好的适用性.

面向大型实时软件的测试覆盖率快速分析方法

现有测试覆盖率统计方法和工具不能完全满足航天领域大型实时软件系统的特殊需求。针对特殊需求,提出一种面向大型实时软件系统的测试覆盖率快速分析方法,借助于自主开发的C++代码覆盖率插装与分析工具,实现批量化的代码插装,实时采集和统计分析被测软件的语句、分支、条件、MC/DC和函数等覆盖率信息,并输出测试覆盖率详情报告。通过一系列脚本和工具链支持,实现全过程自动化。应用案例表明,该方法快速高效,可以及时调整测试策略,优化测试用例,更快地达到测试充分性要求。

考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型

软件可靠性增长模型(SRGMs)是软件可靠性定量评估的重要手段.测试覆盖率与不完美排错则是两种可有效改进软件可靠性增长模型评估性能的重要因素.将两种不完美排错假设与Logistic测试覆盖率函数分别引入NHPP类软件可靠性建模过程,提出两种考虑不完美排错的Logistic测试覆盖率软件可靠性模型(即ILTCS1与ILTCS2),并将这两种新模型与14种现有软件可靠性模型(包括经典模型、测试覆盖率模型以及不完美排错模型)分别应用于3组真实失效数据集.实例验证结果表明:1)ILTCS2模型在3组失效数据集上的评估结果均为最好(MSE值最小),且显著好于多数对比模型.这表明ILTCS2模型具有优秀的评估性能及适用性;2)选择合适的"完美排错"假设或"测试覆盖率"函数对模型评估性能的改进确实有重要影响.

基于覆盖率的嵌入式软件测试方法研究

嵌入式软件的开发和应用不断增多,使得嵌入式软件的质量逐渐受到人们的关注。嵌入式软件测试保障了嵌入式软件的稳定和可靠,但由于嵌入式软件测试相比较传统的应用软件存在较大的硬件依赖性,致使测试的复杂程度大大提高。覆盖率测试可以很好地体现测试过程中的功能完备、逻辑完整性,进一步发现软件中存在的问题。在单元测试工具Gtest基础上结合lcov覆盖率工具可以实现单元测试和覆盖率测试同步测试,节省了用例的编写时间,实现了测试效率的提升,压缩了测试成本。

关于并行程序时序测试中测试覆盖率的研究

在软件测试中，测试覆盖率（ｃｏｖｅｒａｇｅｒａｔｉｏ）是评判程序测试完成程度的重要指标之一．然而，针对并行程序时序的测试覆盖率，目前国际上还未见比较实用的定量分析方法．文中以树型拓扑结构的广播与归并操作的分布式并行实现为例，提出了一种建立在同步序列模型基础之上并专门适合于原子事件测试方法的关于分布式并行程序时序测试的测试覆盖率的数值计算方法．由于广播与归并是两个比较有代表性的并行操作。

基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器

为了更好地建立覆盖率和测试产生器之间的联系,产生高质量的测试,提出基于遗传算法的覆盖率驱动测试产生器.该测试产生器利用一种简单、准确的测试编码方法对测试进行编码,并利用基于功能覆盖率的适应度函数评估测试的优劣.通过遗传算法(GA)建立覆盖率与测试产生器之间的联系,分析覆盖率和测试之间的关系,根据分析结果改变测试产生器的约束和限制,驱动测试产生器生成新一代的测试,新一代的测试可以覆盖到上一代的测试无法覆盖的功能点.实验结果表明:在2个高性能的32位多核处理器的验证环境中,该测试产生器可以明显减少仿真时间,提高验证效率.

基于非线性和测试覆盖率的软件可靠性增长模型

软件可靠性增长模型一般假设故障是独立的,且检测到的故障能够被排除。但在工程中,一些检测到的故障可能无法排除,在排除过程中也可能会引入新的故障。考虑上述因素,本文假设故障的引入过程与时间呈现非线性关系,通过测试覆盖率函数来表示软件故障检测率,建立了基于非齐次泊松过程(non-homogeneous Poisson process,NHPP)的软件可靠性增长模型。为规避参数估计过程中模型函数导数连续性和存在性的限制,应用一个自适应变化的实值遗传算法进行计算。最后通过一个真实软件失效数据集对模型参数进行计算,利用不同的评价准则将所提模型和现有模型进行比较,说明所提模型的优越性和准确性。

利用边界扫描测试和SVT改善基于Haswell的电脑主板的测试覆盖率

针对使用Intel最新一代CPU"Haswell"开发的笔记本电脑、超极本电脑,其主板测试覆盖率普遍低于50%的问题,提出基于边界扫描测试结合SVT测试在不增加测试点的情况下提高测试覆盖率的方案。该方案以便携型边界扫描测试仪和SVT测试盒为硬件,在边界扫描测试软件中无缝集成SVT测试程序,具有结构简单、成本低廉、易于复制的特点,适用于研发、新品导入、量产、维修等多种环境。

一种多X值输入下测试覆盖率损失的预测方法

在集成电路的设计和测试过程中,黑盒模块,未初始化的时序单元,时钟域交叉和A/D转换器的错误行为等情况常常会导致电路中未知值X的出现.电路中X值的传播会严重影响故障的激活和敏化,降低测试覆盖率.针对电路多个输入为X值的情况,本文提出了一种的基于极端随机树算法的测试覆盖率损失的预测方法.通过对电路进行仿真分析,区域划分,提取结构特征等步骤提取出数据集,训练出高准确率高稳定性的预测模型,达到快速分析多点X值输入下电路测试覆盖率损失的目的.实验结果表明,本文模型的平均预测准确率达到了94.47%,相比于同类方法增加21.71%.单个电路的预测结果最低为89.03%,最高为99.99%,表明了本文预测模型具有很好的稳定性.

Evosuite和Randoop单元测试用例生成工具覆盖率对比分析

在软件测试中,测试用例对被测软件的覆盖率,是发现软件缺陷的重要前提之一.本文采用软件工程实验方法,基于Defects4J数据集,对Evosuite和Randoop工具在不同的生成时间限制下,生成的测试用例对程序模块的覆盖率,程序分支的覆盖率等进行实验分析,发现当生成时间超过20 s时,虽然Randoop生成的测试用例多于Evosuite,但Evosuite测试用例的覆盖率明显优于Randoop.本文同时对影响覆盖率的因素进行了分析.该研究对于如何使用这两种工具生成高覆盖率的测试用例,以及对工具的改进具有参考价值.

一种检验测试覆盖率的定义方法及其马尔可夫验证

基于FMEDA分析提出了一种检验测试覆盖率的定义方法,以及可以提高检验测试覆盖率的措施,基于单卡三重化系统利用马尔可夫模型建模,表征检验测试覆盖率的提高对安全仪表系统(SIS)的PFDavg的影响。应用表明,该检验测试覆盖率的定义方法提出的措施可以有效提高检验测试覆盖率,仿真结果发现:提高检验测试覆盖率,并合理增加检验测试频率可以使SIS在其使用期间内的PFDavg大幅降低。

安捷伦科技公司推出可以自动生成在线测试覆盖率报告的软件

2010年12月，安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出一款快速易用的测试覆盖率预测工具：N1194A安捷伦测试覆盖率顾问（ATCC）软件。