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一种估算微带传输线辐射敏感性的解析电路模型 被引量:2
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作者 史春蕾 柴常春 +3 位作者 刘彧千 樊庆扬 刘阳 杨银堂 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第5期97-101,共5页
根据传输线理论和电磁场理论,文中提出了一种估算微带传输线辐射敏感性的时域解析电路模型.该模型能够快速得到微带传输线对外界电磁干扰的敏感阈值,使用国际电工委员会横电磁标准62132-2规定的横电磁小室作为测试环境,选用具有陡峭边... 根据传输线理论和电磁场理论,文中提出了一种估算微带传输线辐射敏感性的时域解析电路模型.该模型能够快速得到微带传输线对外界电磁干扰的敏感阈值,使用国际电工委员会横电磁标准62132-2规定的横电磁小室作为测试环境,选用具有陡峭边沿能直观地呈现微带传输线辐射敏感性的传输线脉冲作为电磁干扰信号.以此模型应用实例来说明模型的有效性,得到了具体的解析电路模型参数,由模型计算和测试结果的对比验证了该模型的准确性.此外,运用该模型进一步计算了不同负载时微带传输线对传输线脉冲的响应情况,并计算了响应中电场耦合和磁场耦合的贡献,得到了负载变化对微带传输线辐射敏感性的影响规律,从而可由负载的选择来提高微带传输线的辐射敏感性. 展开更多
关键词 解析电路模型 辐射敏感性 传输线脉冲 微带传输线
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基于变压器绕组电路-漏磁场多状态解析模型的早期故障保护 被引量:6
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作者 邓祥力 严康 +3 位作者 朱宏业 朱慧 张展 刘世明 《电网技术》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期3808-3818,共11页
针对变压器绕组变形、轻微匝间故障等早期故障现有的保护方案难以有效的保护,该文提出了一种以漏磁场为特征量的变压器早期故障诊断方法。根据三相三柱式变压器的结构特征建立漏磁场分布模型,结合变压器状态空间方程,建立起与物理变压... 针对变压器绕组变形、轻微匝间故障等早期故障现有的保护方案难以有效的保护,该文提出了一种以漏磁场为特征量的变压器早期故障诊断方法。根据三相三柱式变压器的结构特征建立漏磁场分布模型,结合变压器状态空间方程,建立起与物理变压器保持一致的电路–漏磁场多状态解析模型。利用物理实体与多状态解析模型之间漏磁特征的差异性,可以不受励磁涌流的影响,快速、灵敏的识别复杂工况时发生的轻微匝间短路和轴向绕组变形,并能够确定故障位置。 展开更多
关键词 漏磁场 电路–漏磁场多状态解析模型 特性差异 故障识别
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An analytical model to explore open-circuit voltage of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells 被引量:1
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作者 钟春良 耿魁伟 +1 位作者 罗兰娥 杨迪武 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第3期598-603,共6页
The effect of the parameters on the open-circuit voltage, V_(OC) of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells was explored by an analytical model. The analytical results show that V_(OC) increases linearly with the logar... The effect of the parameters on the open-circuit voltage, V_(OC) of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells was explored by an analytical model. The analytical results show that V_(OC) increases linearly with the logarithm of illumination intensity under usual illumination. There are two critical values of the interface state density(D_(it)) for the open-circuit voltage(V_(OC)), D_(it)^(crit,1) and D_(it)crit,2(a few 1010 cm^(-2)·e V^(-1)). V_(OC) decreases remarkably when D_(it) is higher than D_(it)^(crit,1). To achieve high V_(OC), the interface states should reduce down to a few 1010 cm^(-2)·e V^(-1). Due to the difference between the effective density of states in the conduction and valence band edges of c-Si, the open-circuit voltage of a-Si:H/c-Si heterojunction cells fabricated on n-type c-Si wafers is about 22 mV higher than that fabricated on p-type c-Si wafers at the same case. V_(OC) decreases with decreasing the a-Si:H doping concentration at low doping level since the electric field over the c-Si depletion region is reduced at low doping level. Therefore, the a-Si:H layer should be doped higher than a critical value of 5×10^(18) cm^(-3) to achieve high V_(OC). 展开更多
关键词 solar cells a-Si:H/c-Si heterojunctions open-circuit voltage
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