解析穆斯堡尔谱线的计算机程序简介

一、前言 随着Mossbauer谱学研究工作的深入开展,为了研究各式各样的问题,并尽可能从定性的分析向半定量甚至定量化的方向发展。借助于电子计算机人们编制了各种解析M谱线的程序。通过解谱分析可进一步得到有关的M参数,从而可获得材料微观结构方面的信息。因此解谱也是M谱学研究中的一个重要环节。本文就常用的处理M数据的计算机程序作了简略介绍。每个程序分三部份说明:程序的职能,计算方法及程序流程图。

能量色散XRF分析仪谱线处理方法研究

能量色散X射线荧光分析仪可以同时对多种元素进行快速测量,广泛应用于野外和室内分析。本文对其仪器谱的处理方法进行了研究,使用傅里叶变换法对散射本底进行扣除,使用极大似然估计法对谱线进行解析。

能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究

能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时,净峰面积计算、基体中"暗物质"影响了测量精度,制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足,将谱线解析方法与基本参数法融合,将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中,采用分析样品特征X射线分支比的理论系数,对重叠峰进行剥离,解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题;在计算过程中,对"暗物质"进行均一化处理。通过对标准物质测量分析,结果表明对于Ni,Cu,Zn三个元素改进型基本参数法(改进型FP)测量结果准确度高于影响系数法。