采用触发测头进行曲面自动跟踪测量

介绍触发测头的工作特点，并提出一种新的采用触发测头进行曲面自动跟踪测量的方法．该方法采集速度快、精度高，可以应用在数控机床上实现工件的数字化采集，尤其适用于薄壁易变形工件的数据采集．

基于PVDF的三维纳米谐振触发测头及定位系统

微纳米三坐标测量机(Coordinate measuring machining,CMM)是目前微纳米三维测量领域的一个研究热点,针对微纳米CMM中三维纳米测头的研究瓶颈,提出一种与现有机械接触式测头和光学非接触式测头工作原理完全不同的、可达到纳米/亚纳米量级触发分辨力的新型谐振测头。利用聚偏氟乙烯(Poly vinylidene fluoride,PVDF)薄膜的压电特性和其谐振参数对微小作用力的高敏感性,PVDF薄膜与一体式光纤微测杆测球相结合构建成了基于PVDF薄膜的三维纳米谐振触发测头。该测头在z向以轻敲模式接触,在x、y向以摩擦模式接触。经过试验验证,由该测头与三维纳米定位平台、数据处理及反馈控制系统相结合构建成的三维谐振纳米触发定位系统在x、y、z三个方向的触发分辨力都达到了亚纳米量级,分别为0.12 nm、0.10 nm、0.12 nm;三维重复性误差分别为26 nm、36 nm、10 nm。试验结果证实了新型三维谐振测头及其系统的有效性。

一种检测导电式三维触发测头同轴度的新方法

介绍了导电式三维触发测头的结构 ,着重分析了导电式三维触发测头的测量误差和改进测量其同轴度的方法 ,该方法具有一定的普遍性 。

压电式触发测头复零机构的分析

介绍一种新颖的三坐标测量机用压电式触发测头,由于采用三对滑轮加中间环的机械复零机构,从而改善了触测性能,扩大了测头的应用范围,提高了测试精度。

三坐标测量机用压电式触发测头的分析

三坐标测量机用测头对整机性能的影响较大。采用压电式触发测头能改善机械触发式测头的性能。本文就常用的几种压电式触发测头的典型结构原理及性能作一简单分析。

小型加工中心用高精度触发测头

Renishaw的OM400是一款适合小型加工中心用的全新超小型应变片测头，能够减少设定次数，降低废品率，节省卡具费用，并能改善过程控制和实现高精度在机测量。

触发式测头在机标定方法研究

触发式测头是触发式在机测量系统的重要组成部分,对测头进行有效标定可以提高在机测量精度。触发式测头在机标定包括测头预行程误差标定和测头空间位置标定,为剥离测量系统空间误差,基于齐次坐标变换建立测量系统空间误差模型,在此基础上提出了利用标准球进行标定的触发式测头预行程误差标定方法和测头空间位置标定方法。对基于金刚石车床的触发式在机测量系统进行测头标定,利用在机测量系统对平面、柱面与球面特征进行在机测量,测量结果验证了标定方法的有效性。

三坐标测量机触发式测头误差分析

通过对三坐标测量机中广泛使用的触发式测头的简化模型进行受力分析,通过对测头模型预行程变化的定量分析,得到影响预行程的因素。

基于误差隔离的触发式测头预行程标定方法

触发式测头是在机测量系统的主要组成部分,其预行程会计入测量结果从而影响测量精度,因此有必要对其在实际工况下的预行程进行标定并补偿。在分析预行程产生原因的基础上,提出了一种全新的预行程定量标定方法,它通过在实际工况下检测探针与工件接触状况及接触时刻与测头触发时刻之间工件相对测头位移变化而标定出预行程,有效避免了机床伺服系统误差、机床几何及运动误差、探针测球圆度误差、标定体制造误差等因素对标定结果精确性的影响。标定了某高精密测头在实际工况下的预行程,并依据标定结果,完成了触发式测头预行程补偿实验。补偿结果表明,该标定方法实施简单、可行有效,标定精度高。

原位检测系统中触发式测头的误差分析与补偿

在分析了原位检测系统中触发式测头误差来源的基础上,提出了自动调整测头偏心的方法,并用标定球对测头的实际作用半径进行了校准。同时,面向实际测量任务,提出了基于在线标定和双线性插值技术的逐点测头半径补偿方法,实验验证,所提出的半径补偿方法比商用软件提供的方法更准确,提高了测量结果的准确性。

三维触发式坐标测量机测头误差分析与性能实验

阐述了基于光纤布拉格光栅原理的三维触发式坐标测量机测头传感系统及控制箱设计方法,从机械结构、传感信号解调系统以及测量过程中逼近速度和逼近距离等几个角度分析了测头误差来源。根据测头的设计参数要求进行了测头的灵敏度、复位性和测力等性能实验,结果表明该测头单方向重复定位精度为20 nm,灵敏度为50 nm,测量力小于5 mN。

触发式测头在确定工件坐标系中的应用

以三坐标立式加工中心和触发式测头组成的加工中心在线检测系统为例,介绍了触发式测头在确定工件坐标系中的应用原理,由检测程序自动控制完成工件坐标系的设定。同时在MAKINO立式加工中心上进行实验验证,实验结果表明:触发式测头的应用,大大地缩短了机床的辅助时间,提高了生产率。

提高触发式测头在机检测精度

在机检测是保证数控机床加工精度的有效手段。文章系统介绍了触发式测头测量系统的特点及其误差组成，阐述了对在机检测系统及其测量误差修正的技术，最后以实例说明了尺寸误差的反馈补偿的效果。

触发式测头全方位精密测量技术

本文对应用于数控机床及三坐标测量机的触发式测头的静态误差的成因、各向误差的变化规律及影响因素进行了分析，建立了其静态误差的数学模型，为进行全方位精密测量奠定基础。

接触触发式测头触发力的理论分析

对用于三坐标测量机及数控机床的接触触发式测头在触测发讯时的触发力进行了理论分析和计算,得出了触发力的大小与其结构参数之间的关系,从而为触发式测头的误差补偿提供了理论基础.

触发式测头矢量半径标定宏程序设计

在采用FANUC数控系统的立式加工中心上,利用标准环规,自主设计宏程序对雷尼绍OMP60红外触发式测头进行了圆周36等分半径矢量标定。并以标准环规圆心及半径的测量进行验证。结果表明通过半径矢量标定基本可以消除因触发方向不同而造成的测量误差,测量过程中测头安装偏心、预行程变化等影响均可剔除。

数控机床在机检测中触发式测头误差变速补偿

针对机床触发式测头进行系统误差校正时,需要通过数控机床控制器进行计算,从而导致操作困难且精度不高的问题,提出了一种新的测头系统误差补偿方法。该方法可以通过修改该方向上的测量速度,来对给定方向上的测头预行程进行校正,从而显著降低测头的误差。由于可以离线计算所有测量速度,因此控制器无需进行任何运算。分别在实验室和真实在机测量环境中,使用三维触发式测头对所提方法进行了测试。研究结果表明:该方法能够通过误差变速补偿实现触发式测头在机测量,无需控制器的复杂计算并且将误差降低了大约10倍,测头的误差从16.8μm减小到1μm。

加工中心用触发式测头系统监测方法研究

主要研究了在数控加工中心ARROW500上使用触发式测头(英国Renishaw的MP12测头)实现零件加工的自动监测,通过深入研究用触发式测头在加工中心上实现在线监测的方法,使加工零件的序前调整、找正,序中监控及序后测量等可自动完成,实现了加工中心高效率、高自动化的监测.

用触发式测头实现工件在线监控

以牙轮牙掌为例,研究了如何用触发式测头实现工件在线监控,并开发了相应的监控系统。实现了工件测量、数据处理、误差校正控制和加工一体化,大大提高了加工中心生产率和工件加工精度,降低了废品率。

一种在机检测触发式测头精度现场快速标定方法

通过改变探针长度、探测速度和探测角度等参数,测定一款国产在机检测用触发式测头的预行程误差并建立误差补偿数据表。针对触发式测头由于自身三脚支架结构导致各向异性明显的特点,提出一种“离线误差数据表”+“在线方位判定”相结合的现场测头三脚支架方位快速标定方法。经实验验证,该方法能有效提高测头精度,并且提高在机检测标定效率90%以上。