计算芯片(MCU)测试台架方案设计与试验验证

目的:为了解决计算芯片(MCU)应用前期,需针对每一款分别设计对应的开发板、进行外设的功能驱动测试、不具备通用性、制作PCB板周期长等问题。方法:设计一种标准模块化测试台架,并对通讯和外设进行实验验证。结论:该台架整体功满足设计要求,适应于所有相同封装的MCU,可为其测试提供一种可行方案。