Sol-gel法制备(BiAl)DyIG石榴石磁光记录薄膜

采用柠檬酸络合物型溶胶 凝胶法首次制备得到了具有垂直各向异性的(BiAl)DyIG石榴石磁光记录薄膜,并对材料结构和磁光性质进行了研究,结果得到石榴石磁光记录薄膜磁滞回线具有较好的矩形比,在430nm和520nm的品质因子为2°和1.5°,最佳晶化温度为675℃。

磁光记录薄膜的偏振特性分析

光线入射至磁光记录薄膜表面时，由于其入射角和方位角不同，导致磁光薄膜的偏振特性有较大变化，本文运用电磁场理论，对磁光记录薄膜偏振特性随入射角和方位角变化进行了分析。

硬盘用高密度垂直磁记录薄膜研究进展

综述了硬盘用高密度垂直磁记录薄膜的研究发展状况,包括几种重要垂直磁记录薄膜的膜层结构与制备方法。垂直磁记录介质的噪声降低问题。

立方晶体磁记录薄膜稳定磁化的取向研究

导出了易磁化轴沿着x轴时薄膜能量密度的取向通式;分析了薄膜进行稳定磁化的取向数;讨论了能量密度随取向角变化的关系,结果显示:在水平方向上,系统有4个稳定的水平磁化取向,能量密度与2K1之比在θ的取值范围内有最小值,但各曲线最小值对应的θ则不同;在竖直方向上,当α取一周时,有4个稳定磁化方向,但此时的稳定磁化弱于不稳定磁化;当分别保持磁化场和磁化强度不变时,两种情况下的能量密度与2K1之比值都有最大值和最小值,且各曲线上最大值与最小值对应的位置相同.

(Dy,Gd)FeCo磁光记录薄膜温度特性的计算与分析

依据实验结果,运用平均场理论,计算了(Dy,Gd)FeCo磁光记录薄膜随温度连续变化时的饱和磁化强度Ms,得到了居里温度、补偿温度及Ms(T)随材料成分变化趋势图。这些结果对于研究磁光材料的温度特性及热稳定性具有一定的参考价值。

RE－TM磁光记录薄膜的磁场电效应研究

研究了磁性薄膜磁场电效应的测试方法，ＲＥ－ＴＭ磁光薄膜的测试样品制备、样品的磁场电效应（霍尔效应和磁阻效应）及其温度特性。实验结果表明，制备的ＴｂＦｅＣＯ薄膜的补偿点约为─３８℃。

基于降温法的直接重写磁光记录薄膜居里温度的快速测量

在测量单层或多层磁光记录薄膜的居里温度时 ,为了达到有目的测量和提高测量的效率 ,采用了在快速升温过程中 (<5min) ,在感兴趣的温度范围里观察被测薄膜 Ms～ T曲线变化的全过程 ;然后 ,初步判断薄膜的居里温度可能在哪个温度区域里 ,决定是否需要精确测量 ;最后 ,若决定测量 ,选择居里温度附近的一段温度区域里利用降温过程测量。整个测量过程比采用逐步升温、并在每个恒定的温度上读取饱和磁化强度 Ms的方法节省大量的时间。只要选择一类响应时间快的热电偶 ,可以达到与逐步升温方法同样的测量精度。

小波分析方法在磁光记录薄膜基本特性分析中的应用

利用小波分析方法取代传统的傅立叶方法对微弱的磁光记录薄膜信号进行分解、滤波和局部信号处理，大大提高了测量的灵敏度，更好地分析了磁光记录薄膜的基本特性。

基于梯度分割的磁光记录薄膜磁畴图像特征提取

提出了一种基于梯度分割的图像特征提取方法,对低对比度磁光记录薄膜磁畴图像进行处理。该方法采用如下三个步骤:首先,采用Lee滤波器进行预滤波和消除噪声;接下来进行梯度特征分割,将目标区域从背景中提取出来;最后对边缘进行连接并计算磁畴的特性参数。本文重点在于梯度特征分割方法。

磁光记录薄膜擦写疲劳特性测试系统的研制

成功研制了磁光记录薄膜擦写疲劳特性测试系统。系统中利用串联谐振法 ,获得了重复频率为 1 k Hz、峰值磁场达 4 0 k A/m的高频双向脉冲磁场 。

磁光记录薄膜磁光特性参数测量的外推方法

本文采用自制的一种磁光特性测试仪器和 Romberg外推算法 ,对于 SONY公司的一种 640 M直接重写磁光盘 ,在 2 4 5～ 350 K温度范围内 ,获得它完整的磁光温度特性 ,包括克尔角与温度的关系曲线和矫顽力与温度的关系曲线。

直接重写磁光记录薄膜磁特性测量的外推方法

当测量直接重写磁光记录薄膜的矫顽力 ,饱和磁化强度所需的外磁场和磁化强度超出了所用 VSM的测量范围时 ,若不采用增加膜厚的方法 ,则无法直接测量薄膜的基本参数。本文提出一种简单、有效、可靠、精密的外推方法间接地测量出它的磁性参数 ,并得到它的完整的温度特性 。

垂直磁记录薄膜退磁场修正及Delta-M曲线测量方法

垂直磁记录薄膜可以通过Delta-M曲线来判断其磁性晶粒间相互作用等相关磁性能。采用Lakeshore7407型振动样品磁强计(VSM)测量了直流磁控溅射制备的Co23Pt77垂直磁记录薄膜的磁性能,详细介绍了垂直薄膜等温剩磁(IRM)曲线和直流退磁剩磁(DCD)曲线的测量方法及退磁因子的计算方法,确定了退磁场修正方法并讨论了如何根据退磁场修正后的IRM曲线和DCD曲线得到垂直磁记录薄膜的Delta-M曲线。

磁光记录薄膜温度特性测量方法研究

光调制直接重写磁光盘为多层耦合膜，要求各功能层厚度很小，同时饱和磁化强度从很低，用一般的VSM测量系统的测定各功能层的Ms及其与温度的关系比较困难。我们采用了多种技术，包括隔震技术、仪器参数综合优化和误差分析等方法，提高了VSM测量灵敏度，成功测出了磁光记录薄膜各功能层的温度特性及其居里温度，取得了很好的效果。

小波分析在磁光记录薄膜磁畴图象处理中的应用

简单介绍了小波分析的特点 ,分析了图象的二维离散小波变换算法和基于小波的边缘检测算法 ,采用小波分析对磁畴图象进行了图象增强、图象消噪及边缘检测等处理 ,较好地分析了磁畴的图象 ,准确地计算了磁畴的特性参数。

MATLAB在磁光记录薄膜温度特性研究中的应用

简要介绍了 MATLAB软件及其主要特点 ,讨论了磁性材料的温度特性及其测量方法 ,重点分析了 MATLAB在磁光记录薄膜温度特性研究中的应用 :通过插值方法用已知实验数据点估算新的数据点 ,应用 MATLAB数学函数求解磁光记录薄膜各功能层的居里温度。本文的具体实例表明 ,在磁学研究中使用

磁力显微镜在磁记录薄膜研究中的应用

首次使用磁力显微镜（MagneticForceMicroscope）观察和分析了化学镇CoNiMnP垂直磁记录膜的磁畴结构，讨论了范德瓦尔斯力对MFM成像的影响。

基于遗传算法的磁光记录薄膜的温度特性计算

In this paper, the basic calculation principle of the temperature dependence of saturation magnetization (M_s) of magneto-optical recording film is briefly introduced. We propose a genetic algorithm method to calculate the temperature characteristics of RE-TM magneto-optical recording film.The key steps, including selecting adapting function, marking, and determination of generic operator, are analysed. Experimental results are satisfying and the convergence speed is very fast.

1J22合金材料应用于溅射垂直磁记录薄膜的尝试

1J22合金带作为溅射靶材的一种尝试,充分利用1J22合金冷轧带材产品具有高饱和磁感应强度、高居里温度、成分均匀、纯度高的优点.避免粉末法制备FeCo产品所产生的纯度低、成分不均匀等缺陷.磁控溅射出成分均匀、磁性能较好,用于垂直磁记录的薄膜,可以替代其它FeCo和FeNi合金靶材,成为更加理想的垂直磁记录溅射靶材.

垂直磁记录薄膜实施剩余磁化测量时退磁场的补偿

对于垂直磁记录薄膜 ,进行剩余磁化强度的测量时 ,必须补偿退磁场 .提出一种新方法 ,在直流退磁剩磁和等温剩磁测量中采用有效反向磁场来直接补偿退磁场 .从而可以正确地得出垂直磁记录薄膜的ΔM曲线并评价晶粒间的磁相互作用 .还采用了三种方法来确定其中的关键参数———退磁因子 .结果表明 ,c轴垂直取向的钡铁氧体薄膜中 ,晶粒间的磁相互作用是交换偶合型的 ;而Co Cr Ta薄膜中 ,晶粒间磁相互作用是静磁相互作用 .