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Memory characteristics of Au/PZT/BIT/p-Si ferroelectric diode
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作者 王华 于军 +4 位作者 董晓敏 周文利 王耘波 郑远开 赵建宏 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS 2001年第3期274-279,共6页
由 Au/PZT/BIT/p-Si 多层的配置组成的一根铁电体记忆二极管被搏动的激光免职(PLD ) 制作了技术。铁电体性质和记忆特征被调查。PZT/BIT/p-Si 电影系统的 P-E 曲线把不对称现象浸透在残余的极化的磁滞现象循环 withP t=15 C/cm2 andE c=... 由 Au/PZT/BIT/p-Si 多层的配置组成的一根铁电体记忆二极管被搏动的激光免职(PLD ) 制作了技术。铁电体性质和记忆特征被调查。PZT/BIT/p-Si 电影系统的 P-E 曲线把不对称现象浸透在残余的极化的磁滞现象循环 withP t=15 C/cm2 andE c=48 kV/cm,和腐烂仅仅在 109 个切换的周期以后是 10% ,同时强制的地的增加是 12% 。C-V 磁滞现象环和 I-V 曲线证明记忆效果源于 PZT/BIT 电影的铁电体极化,并且当前的密度是 6.7 ?????????????????????????? 業牣灯潲敢吗?? 展开更多
关键词 ferroeletric 电影 记忆二极管 Pb (Zr0.52Ti0.48 ) O3 BI4TI3O12
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