基于布尔可满足性的电路设计错误诊断算法

提出了一种组合电路设计错误诊断算法,该算法结合传统基于模拟的方法和可满足性问题求解技术,在不依赖于故障模型的条件下实现对电路逻辑错误的诊断定位.提出了基于布尔可满足性的增量式电路诊断方法,通过对可满足解依据电路结构信息筛选分级,提高了多错误诊断定位的分辨率和准确性;并提出多项启发式方法,避免了大量不必要的操作,使算法在时间和内存上保持有效性.实验结果表明,利用形式验证的技术来导向模拟的过程,抓住了高复杂度的多错误定位问题的特征,提高了电路错误诊断的效率.

一种改进的基于SAT的多错误诊断算法

改进了一种组合电路设计错误诊断DED(Design Error Diagnosis)算法。它使用多可满足性问题(SAT)求解技术,通过对布尔可满足解计数来实现对多个逻辑错误的诊断定位。改进了电路诊断架构,新架构的合取范式表述所使用的变量和子句数目大为减少;通过多种启发式方法,避免了不必要的操作,使算法在时间和内存上保持有效性。