一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案

针对March类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长,且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题,提出一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案。该方案包括2种并行检测方法:(1)根据DDR2的结构和工作原理设计的芯片级并行,可以并行检测一个DDR2内部的多个内存芯片。(2)根据访存控制器的结构和工作原理设计的访存控制器级并行,可并行检测多个DDR2内存条。对于芯片级并行,访存带宽越大,即并行检测的芯片个数越多,并行效果越好,从1个芯片到并行检测8个芯片,内存的检测时间几乎是呈线性递减的。对于访存控制器级并行,访存控制器数量越多并行效果越好,从1个LMC到2个LMC,内存的检测时间几乎减少了一倍。实验结果表明,2种并行检测方法不仅能够成倍加快检测速度,而且更适用于用户对内存的检测。