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增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法
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作者 刘畅 贺旭 +1 位作者 梁斌 郭阳 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第6期1158-1165,共8页
为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;... 为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率. 展开更多
关键词 软错误率 电荷共享效应 脉冲窄化效应 单粒子瞬态 详细布局方法 软错误率评估
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