两种可靠性加速测试方法及失效率评估与预测

可靠性测试项目种类有很多,如何选择,用较少的样品数及较少的测试时间来最大化的发现产品的失效率和失效模式,从而进一步提高产品的可靠性,这个是电子行业内普遍比较感兴趣的课题。该文结合笔者多年在电子产品领域的研发设计和可靠性工作经验,推荐两种可靠性加速测试方法:双85测试和高低温冲击测试,并重点介绍了两种测试方法的加速因子计算;同时介绍了一种用卡方分布来推测产品失效率的计算方法,最后该文根据一个实际电子产品的案例,给出如何根据产品的预期失效率设计双85测试的测试时间和测试样品数,以及如何根据产品的预期使用寿命内总开关次数设计高低温冲击测试的测试条件和测试循环数。

大众捷运不断电系统可用度及可靠度分析

分析单一组件的历时可用度行为,探讨对数常态分布可靠度(中位数tmed以及误差因子EF)和指数分布维修度(平均维修时间MTTR)对其可用度的影响,得出数值分析结果:在固定稳态可用度ASS以及平均维修时间MTTR的情况下,中位数tmed越小(或是误差因子EF越大)的组件历时可用度越早单调下降且下降量越大,越晚回弹至其稳态可用度;在固定稳态可用度ASS以及误差因子EF的情况下,具有越大平均维修时间MTTR的组件历时可用度越晚单调下降但下降量不变,也越晚回弹至其稳态可用度。建立不断电系统可用度以及可靠度的分析模式,探讨正常供电、电池备援以及旁通供电3种不同模式对整体可用度以及可靠度的贡献程度,得出数值分析结果:正常供电模式贡献了绝大部分的整体不断电可用度;不考虑维修作业能力,整体不断电系统的可靠度参数MTTF为1184301h。