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分子筛调功柜可控硅多次烧毁故障分析及处理
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作者 廉克勐 《电工技术》 2012年第12期55-56,共2页
介绍一起分子筛调功柜可控硅多次击穿故障,分析故障原因,并提出更改分子筛炉膛温度高温跳车值、更换可控硅、改进调动柜等解决方法。
关键词 分子筛 晶闸管交流功率控制器 可控硅 通风散热 调动柜
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