γ射线在ICT中的能谱硬化与散射修正

γ射线在ＩＣＴ的原始数据中含有各种误差，要作校正．本文研究了能谱硬化与散射修正，并且给出了相应的数学模式。

X射线ICT能谱硬化的校正研究

本文讨论Ｘ射线ＩＣＴ中，由于Ｘ射线束的非单色性而引起的能谱硬化问题，这种能谱硬化应该被校正。从实验中，我们获得了校正曲线，并给出了相应的数学模型。我们建议采用专门的软件来进行这种校正。

X射线透射ICT中射束能谱硬化修正

阐述了X射线透射CT中由于X射线束的硬化而对图像重建产生的影响 ,并说明了X射线在被测物质的衰减系数不仅与被测物质的密度有关 ,同时还是射线能量及位置坐标的函数 ,并给出数学表达式 。

基因芯片在同型半胱氨酸诱导动脉粥样硬化基因表达谱变化中的应用

应用基因芯片技术研究同型半胱氨酸诱导动脉粥样硬化的基因表达谱变化。选取 3例无冠心病传统危险因素的住院患者 ,其中 1例为血同型半胱氨酸正常的冠状动脉造影正常者 ,1例为血同型半胱氨酸正常的冠心病患者 ,1例为高同型半胱氨酸血症的冠心病患者。分离外周血淋巴细胞并抽提总RNA ,逆转录制备杂交探针 ,应用含有 115 2条基因的人类表达谱芯片进行差异表达谱分析。结果发现 ,高同型半胱氨酸血症的冠心病患者与血同型半胱氨酸正常的冠状动脉造影正常者比较差异表达的基因 177条 (组一 ) ,高同型半胱氨酸血症的冠心病患者与血同型半胱氨酸正常的冠心病患者比较差异表达的基因有 15 1条 (组三 )。组一与组三基因芯片平行比较 ,二者共同的差异表达基因 4 8条 ,其中上调基因 2 3条 ,下调基因 2 5条。结果提示 ,在差异表达的基因中 ,有些是凋亡、信号转导、免疫、蛋白质合成及原癌基因等的相关基因 ,这些基因可能与同型半胱氨酸致动脉粥样硬化发生有关。应用基因芯片技术研究同型半胱氨酸诱导动脉粥样硬化差异表达谱 ,可能为动脉粥样硬化发病机制研究提供新的思路。

线吸收系数能谱效应解析法研究

用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式。研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小。FTO客体中钨的平均有效线吸收系数0.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数0.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%。在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度。

PCI9030在基于PCI总线X光谱数据采集卡中的应用

工业X-CT(X-ray Computed Tomography)即工业X射线层析成像技术,既是一种精密的测试设备,也是一种先进的无损检测技术,在航空、航天、军工、机械、电子、石油及地质等部门中有着广泛的用途.在工业X-CT系统中,因为X射线的能量是一个连续谱线,故X射线与被测物作用后将产生"能谱硬化"(Beam-hrdening)现象,这对CT图像质量将造成不良的影响,必须进行硬化校正.X光谱仪即是为此而研制的.论文在分析比较X光谱仪数据采集卡及系统的基础上,研制了一种基于PCI总线的X光谱数据采集卡,并就PCI数据采集卡设计中采用目标接口芯片PCI9030时,如何对本地总线及挂接的设备进行硬件设计以及如何设置几个重要的寄存器等进行了阐述,获得了一些进展.

中子照相定量分析能谱影响校正

提出了有效截面刻度曲线法用于中子照相定量分析中能谱影响校正,该方法操作简单、可行性强。利用该方法对蒙特卡罗计算所得中子图像进行分析及中子能谱影响校正,取得了较好的效果。

TOPAZ-Ⅱ反应堆慢化剂正温度效应研究

TOPAZ-Ⅱ空间核反应堆电源采用热离子静态热电转换方式,系统输出电功率为5 kW,寿命可达3 a,是当前可迅速工程化的最先进的空间核电源系统之一。然而TOPAZ-Ⅱ反应堆的慢化剂温度系数是一个较大的正值,并导致了全堆的温度系数也是正值,这对反应性控制系统的可靠性提出了很高要求,因而有必要对其产生的机理进行详细的研究。采用MCNP程序构建了TOPAZ-Ⅱ反应堆堆芯三维精确几何模型,从中子能谱的变化、中子平衡关系的变化以及中子循环因子的变化3个方面详细分析了TOPAZ-Ⅱ反应堆慢化剂正温度效应产生的原因。通过设计验证算例验证了分析的正确性,并找到了可减小慢化剂正温度效应的方法,为未来热离子反应堆的优化设计提供了一个指导方向。

70kV可调高能X射线测厚仪的研制

介绍了可调高能X射线测厚仪的原理、系统组成和实验结果。在管电压50kV、管电流0.5mA条件下,对冷轧薄钢板进行现场对比试验,标准误差为±1.12道,相对误差小于1%。