室内多道γ射线能谱仪(NaI(Tl))谱线分析

论述了以NaI(Tl)晶体为探测器的室内低本底多道γ射线能谱仪用于测量样品中226Ra、232Th和40K放射性比活度的两种计算方法———谱线分解法和特征能量峰法(逆矩阵法),并设计编制程序,分别采用这两种方法对样品谱线进行处理分析,将分析结果与高纯锗γ谱仪分析结果对比,两种方法分析同一样品的相对偏差均≤10%。