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利用谱线宽度法测定高含量铋 被引量:2
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作者 陈金忠 魏艳红 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期41-44,92,共5页
用谱线宽度方法定量检测了硅铋样品中含量为70%的铋,相对误差小于7.15%,相对标准偏差为5.85%。讨论了电极间距、曝光时间、工作电流和显影时间对分析线对宽度差之影响。
关键词 谱线宽度法 高含量
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谱线宽度法测定粉末样品中高含量锡 被引量:1
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作者 陈金忠 魏艳红 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第5期86-89,共4页
本文利用谱线宽度方法测定了钽锡矿物样品中高含量元素Sn,讨论了外加内标元素Pb的含量分别在1%、2%和3%时对分析结果的影响。实验结果表明,Pb的不同加入量使得光谱分析的准确度和精密度有所变化。
关键词 谱线宽度法 内标 钽锡矿
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利用谱线宽度法测定主要成分 被引量:1
3
作者 陈金忠 魏艳红 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第4期29-31,35,共4页
本文报导在测定样品中主要成分时谱线宽度方法的应用,讨论了曝光时间、工作电流和显影时间对分析线对的宽度差之影响,从而指出在测定高组分时宽度方法的可行性。
关键词 谱线宽度法 摄谱 粉末样品
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不同含量银的谱线宽度测定法 被引量:1
4
作者 王红群 《资源环境与工程》 2006年第5期551-552,共2页
在粉末发射光谱法中用谱线黑度法测定化探样中低含量银,用谱线宽度法测定同批次样品高含量银,方法快速、简便、成本低,能满足测试质量要求。
关键词 谱线黑度 谱线宽度法
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Study on Microcavity Organic Light-emitting Devices Containing Negative Refractive Index Dielectric Layer
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作者 CAI Hong-xin LI Li-xin 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2009年第3期153-157,共5页
A new structure containing negative refractive index dielectric layer(NRlDL) is introduced into microcavity. The properties of the new mierocavity organic light-emitting devices(MOLEDs) are investigated. In the ex... A new structure containing negative refractive index dielectric layer(NRlDL) is introduced into microcavity. The properties of the new mierocavity organic light-emitting devices(MOLEDs) are investigated. In the experiment, the transfer matrix method is adopted. The dependence of reflectance and transmittance on the refractive index and thickness of NRIDL are analyzed in detail. Compared with the electroluminescence spectra of non-NRIDL diodes, the line widths of the spectra of the MOLEDs are narrower and all the peaks enhance. The results show that the new structure is beneficial to improve the performance and reduce the thickness of microcavity devices. 展开更多
关键词 microcavity organic light-emitting device electroluminescence(EL) spectra negative refractive index dielectric layer
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