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10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统
1
作者
冯莉
梁斌明
+1 位作者
陈家璧
庄松林
《计算机与数字工程》
2008年第9期47-49,共3页
10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统在实验上为探测光子晶体光频波段负折射现象提供了实验平台。该系统采用VB编写控制程序,通过数据采集卡实现计算机对旋转台及平移台的控制,在以光子晶体样品为探测中心的轨道上,对折射光的整个...
10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统在实验上为探测光子晶体光频波段负折射现象提供了实验平台。该系统采用VB编写控制程序,通过数据采集卡实现计算机对旋转台及平移台的控制,在以光子晶体样品为探测中心的轨道上,对折射光的整个空间功率分布进行实时采集、绘图。根据折射光最大光功率出现的位置,判断该光子晶体样品是否产生负折射现象。这一实验系统能够精确便捷地实现负折射现象在光频波段的探测。
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关键词
数据采集
实时绘图
四维探测
负折射功率
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职称材料
题名
10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统
1
作者
冯莉
梁斌明
陈家璧
庄松林
机构
上海理工大学光学与电子信息工程学院
出处
《计算机与数字工程》
2008年第9期47-49,共3页
基金
国家自然科学基金项目(编号:60478045)资助
上海市教委优秀青年基金资助项目
文摘
10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统在实验上为探测光子晶体光频波段负折射现象提供了实验平台。该系统采用VB编写控制程序,通过数据采集卡实现计算机对旋转台及平移台的控制,在以光子晶体样品为探测中心的轨道上,对折射光的整个空间功率分布进行实时采集、绘图。根据折射光最大光功率出现的位置,判断该光子晶体样品是否产生负折射现象。这一实验系统能够精确便捷地实现负折射现象在光频波段的探测。
关键词
数据采集
实时绘图
四维探测
负折射功率
Keywords
data sampling, real-time drawing, 4D detecting, negative refractive power
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
10.6μm波段扫描负折射功率的实时探测系统
冯莉
梁斌明
陈家璧
庄松林
《计算机与数字工程》
2008
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