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用靶添加剂提高负溅射离子源流强的研究
1
作者
杜光天
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期101-105,共5页
用Hiconex834溅射负离子源研究了Cs_2CrO_4、CsF和CsI等靶添加剂。-定比例的Cs_2CrO_4既改善靶表面的铯覆盖又达到喷氧的效果,Fe^-、Ag^-和Cu^-的流强分别提高到纯铁、银和铜靶的10、6和3.5倍。此外,渗少量卤化铯到合适的金属靶内,可方...
用Hiconex834溅射负离子源研究了Cs_2CrO_4、CsF和CsI等靶添加剂。-定比例的Cs_2CrO_4既改善靶表面的铯覆盖又达到喷氧的效果,Fe^-、Ag^-和Cu^-的流强分别提高到纯铁、银和铜靶的10、6和3.5倍。此外,渗少量卤化铯到合适的金属靶内,可方便地制备强的相应卤素负离子束,用慕尼黑大学的高强度负溅射源,渗5%Fe_2O_3于铁靶中,使Fe^-流强提高了一倍。
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关键词
靶
添加剂
离子源
负溅射
流强
下载PDF
职称材料
氮气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒性能的改善
被引量:
3
2
作者
张利春
高玉芝
+2 位作者
宁宝俊
张录
王阳元
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第8期615-622,共8页
本文研究了不同气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒特性的影响。我们发现,采用氮气氛下衬底负偏压预溅射新工艺能明显改善GaAs肖特基势垒特性:势垒高度增高,势垒电容减小和二极管反向击穿电压增大。这种新工艺对于GaAs肖特基势垒...
本文研究了不同气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒特性的影响。我们发现,采用氮气氛下衬底负偏压预溅射新工艺能明显改善GaAs肖特基势垒特性:势垒高度增高,势垒电容减小和二极管反向击穿电压增大。这种新工艺对于GaAs肖特基势垒特性改善和GaAs MESFETs性能提高是一个非常有用的技术。
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关键词
GAASMESFET
肖特基势垒
负
偏压
溅射
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职称材料
题名
用靶添加剂提高负溅射离子源流强的研究
1
作者
杜光天
机构
中国科学院上海原子核研究所
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期101-105,共5页
文摘
用Hiconex834溅射负离子源研究了Cs_2CrO_4、CsF和CsI等靶添加剂。-定比例的Cs_2CrO_4既改善靶表面的铯覆盖又达到喷氧的效果,Fe^-、Ag^-和Cu^-的流强分别提高到纯铁、银和铜靶的10、6和3.5倍。此外,渗少量卤化铯到合适的金属靶内,可方便地制备强的相应卤素负离子束,用慕尼黑大学的高强度负溅射源,渗5%Fe_2O_3于铁靶中,使Fe^-流强提高了一倍。
关键词
靶
添加剂
离子源
负溅射
流强
Keywords
Target additives Sputter negative ion source
分类号
TL503.3 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
氮气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒性能的改善
被引量:
3
2
作者
张利春
高玉芝
宁宝俊
张录
王阳元
机构
北京大学微电子学研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第8期615-622,共8页
文摘
本文研究了不同气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒特性的影响。我们发现,采用氮气氛下衬底负偏压预溅射新工艺能明显改善GaAs肖特基势垒特性:势垒高度增高,势垒电容减小和二极管反向击穿电压增大。这种新工艺对于GaAs肖特基势垒特性改善和GaAs MESFETs性能提高是一个非常有用的技术。
关键词
GAASMESFET
肖特基势垒
负
偏压
溅射
Keywords
Negative substrate bias presputtering
GaAs
Schottky barrier
Self-aligned GaAs MESFETs
分类号
TN386.3 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用靶添加剂提高负溅射离子源流强的研究
杜光天
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990
0
下载PDF
职称材料
2
氮气氛下衬底负偏压预溅射对GaAs肖特基势垒性能的改善
张利春
高玉芝
宁宝俊
张录
王阳元
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990
3
下载PDF
职称材料
已选择
0
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导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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