一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路设计

本文基于SOI工艺,设计优化了一种应用于高边驱动芯片的负载开路检测电路。针对传统检测方法消耗冗余电压降和检测误差大的问题,本电路使用双重判决模式加以解决;针对传统电路存在信号干扰引起的振荡及开关管开关损耗的问题,本电路使用滞回比较器加以解决,提高了负载开路检测的精度、有效性和可靠度。仿真结果表明,该电路可实现低阈值高精度电流检测,当设定的检测电流阈值为3mA时,电流检测精度高达98.5%;此外实现2V的抗干扰冗余电压,能够保证芯片正常运行。