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双成分负U模型的赝隙形成及其核弛豫行为
被引量:
1
1
作者
冯小兵
章立源
《大连铁道学院学报》
1998年第1期11-16,共6页
利用格林函数退耦合方法研究了双成分负U模型单粒子激发谱。为包含部分涨落效应在运动方程的第三步作退耦合近似。研究结果表明,在激发谱中存在赝隙。此外,计算得到的核自旋-晶格弛豫率与过掺杂的高温超导体的行为相符。
关键词
赝隙
负u模型
弛豫率
高温超导体
激发谱
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职称材料
题名
双成分负U模型的赝隙形成及其核弛豫行为
被引量:
1
1
作者
冯小兵
章立源
机构
大连铁道学院
北京大学
出处
《大连铁道学院学报》
1998年第1期11-16,共6页
文摘
利用格林函数退耦合方法研究了双成分负U模型单粒子激发谱。为包含部分涨落效应在运动方程的第三步作退耦合近似。研究结果表明,在激发谱中存在赝隙。此外,计算得到的核自旋-晶格弛豫率与过掺杂的高温超导体的行为相符。
关键词
赝隙
负u模型
弛豫率
高温超导体
激发谱
Keywords
pse
u
dogap
negative-
u
relaxation rate
high-T c s
u
percond
u
ctor
分类号
O511 [理学—低温物理]
O562.4 [理学—原子与分子物理]
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作者
出处
发文年
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1
双成分负U模型的赝隙形成及其核弛豫行为
冯小兵
章立源
《大连铁道学院学报》
1998
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