双成分负U模型的赝隙形成及其核弛豫行为

利用格林函数退耦合方法研究了双成分负Ｕ模型单粒子激发谱。为包含部分涨落效应在运动方程的第三步作退耦合近似。研究结果表明，在激发谱中存在赝隙。此外，计算得到的核自旋－晶格弛豫率与过掺杂的高温超导体的行为相符。