用质子激发X射线能谱分析技术测量FVAPD装置合成薄膜均匀性

采用质子激发的X射线能谱分析 (PIXE)方法对磁过滤阴极真空弧沉积 (FVAPD)装置在Al板上合成Ti膜相对厚度进行了测量 ,给出了沉积靶室中不同位置大面积合成薄膜的均匀性 .通过同背散射分析 (RBS)测量结果的比较表明 :利用在轻衬底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、无损和精确地测量FVAPD装置合成薄膜的均匀性 .

一批中国古玻璃化学成分的质子激发X射线荧光分析

质子激发X射线荧光(protoninducedX rayemission,PIXE)技术是一种高灵敏度、非破坏性、多元素定量测定的分析方法。采用外束PIXE技术对内蒙古地区和博山出土的一批古代玻璃的化学成分进行了定量测定。结果表明:内蒙古地区出土的玻璃中,西周时期的玻璃珠是含有少量K2O和CaO助熔剂的釉砂,其主要成分为SiO2;汉代的玻璃珠属于PbOSiO2玻璃;多数元代的玻璃制品和部分北魏时期的玻璃珠属于K2OCaOSiO2玻璃。博山出土的元末明初的玻璃基本为K2OCaOSiO2系玻璃,并采用了Cu,Fe等微量元素作为着色剂。结合实验结果,对相关问题进行了讨论。

质子激发X射线荧光分析及其在海洋科学中的应用

质子激发X射线荧光分析是一种多元素微量分析技术,具有高灵敏度、高空间分辨率和非破坏性等特点,近年来在地球科学诸多领域得到大量应用.本文简介了质子激发X荧光分析技术的基本原理、实验装置及特点,与其他地质学方法进行了比较,并着重介绍该技术在海洋科学领域的应用进展.

多种釉色钧官瓷胎原料来源的质子激发X射线荧光分析

为了解不同釉色钧官瓷胎的原料来源和分类关系,选取来自8种不同釉色钧官瓷的胎样品50个,对这些样品进行质子激发Χ射线荧光分析,测定每个样品的9种化学组分。对这些数据进行模糊聚类分析,所有钧官瓷胎样品被分为3大类。由此可推断,制作这批钧官瓷胎的原料不是来自于同一批料;不同类钧官瓷胎的原料来源和成分接近但又有所不同;当时的窑工采用一批胎料同时烧制各种釉色的瓷器。

地质样品中微量元素的质子激发X射线发射分析

质子激发X射线发射(PIXE)分析是近年发展起来的一种新的微量分析技术。由于传统方法所要求的薄靶制样等方面的困难,迄今它在地质样品方面的应用尚不多见。本工作针对地质样品的特点,尝试了简单、方便的厚靶制样法,并采用计算机处理技术解决了由此而引起的复杂的理论校正问题。对若干USGS岩石标准样作了试分析,结果是令人满意的,从而为微量元素的地球化学研究开辟了一条新的途径。

福泉山良渚文化玉器的PIXE分析

报道用质子激发Ｘ荧光技术（ＰＩＸＥ）分析福泉山良渚文化玉器的实验结果。采用ＰＩＸＥ方法可以可靠地鉴别福泉山玉器的种类，福泉山玉器中有软玉，也有岫玉。它们与江苏溧阳小梅岭玉在元素含量上差别很大，但软玉与新疆和田出产的软玉很类似。分析福泉山软玉铁镁占位比Ｓ，可排除杂质元素干扰，得到矿物结构和沁色信息。

用质子激发X荧光分析技术鉴别玉器种类

质子激发X荧光分析技术可以测定玉器的主量、次量及微量元素的成分和含量，因而可以将那些外形及颜色相近的玉器因其化学组分的不同而清楚地分开，并得知其真实的材料种类。对于主要化学组分一致的同类玉器，如果产于不同的地方，则由于其成矿地区地球化学环境的不同，它们的微量元素种类及含量也将有所不同，因而这一方法也可用来判定玉器的产地。

X射线荧光光谱分析

评述了我国在 2 0 0 0年 7月～ 2 0 0 2年 6月间X射线荧光光谱 ,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用 ,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2007～2008年X射线荧光光谱，包括质子激发的x射线光谱的发展和应用，内容包括仪器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、基础研究和分析方法研究及其应用。

单向聚束质子激发X射线研究超导材料合成中的重力效应

采用质子激发Ｘ射线（ＰＩＸＥ）分析技术，以能量为２．０ＭｅＶ的质子束为激发源，利用单元四极磁透镜对带电粒子束的单向聚束本领，对超导材料样品ＣａＳｒ２Ｂｉ２Ｃｕ２Ｏ８进行了扫描ＰＩＸＥ分析，获得了其中元素Ｘ射线强度的垂向分布数据。在没有质子数数据参数的情况下，针对这种样品组成已知的特殊性，采用了内标迭代定量分析方法，获得了各元素的垂向浓度分布结果。强度和浓度数据均表明，元素Ｃａ主要分布在样品的顶部表层，证明人们关于超导材料合成过程中存在重力效应影响的推断是正确的。

应用PIXE技术对书写字迹的分析

在国内首次应用质子激发X射线荧光法对常见的书写字迹进行刑事检验分析,确认PIXE技术可以作为文件检验当中字迹同一认定的有效方法。同时,质子激发X射线荧光法也是一种有效的无损检验的方法。提出了不同于现在的解决途径的质子激发X射线荧光技术解决法庭科学当中的两大疑难问题——书写时间的鉴定、毒品源头的认定。

景德镇与德化青花瓷原料来源的质子诱发X射线荧光分析

为了解景德镇和德化地区不同时期青花瓷的原料来源、成分和分类关系,用质子激发X射线荧光分析技术,分别无损测定34个样品胎、透明釉、青花釉中的主量化学组成,将所有样品的测量数据进行模糊聚类分析。结果表明:多数德化地区青花瓷胎样品和景德镇地区青花瓷胎样品的原料来源和分类关系明显不同;8个明代景德镇地区的青花瓷透明釉样品和多数德化地区青花瓷透明釉样品的原料来源和配方明显不同;除个别样品外,两地区多数青花釉样品分为截然不同的两大类,这为无损鉴别两地区青花瓷提供了一条重要的技术途径。

用PIXE法分析较厚样品时元素含量的计算

采用质子激发X射线荧光法(PIXE)分析生物,医学及环境等样品时,都要涉及到厚靶的分析。通常,靶都制得很薄,即所谓的薄靶(对2.0MeV的质子束,靶厚小于1mg/cm^2),这可使对样品中各元素含量的计算简单,但其计数效率太低。为了提高效率而又节省用机时间,希望将靶制得稍厚一些,即所谓厚靶(靶厚大于1mg/cm^2),这时就必须考虑质子束通过靶层时能量损失所引起的特征X射线产生截面的变化,以及靶不同深度处产生的特征X射线穿出靶时因吸收而致的强度减弱。本文主要介绍从理论上对未考虑上述影响的薄靶计算公式的修正问题,并通过对标准桃叶的测量来验证这一计算方法的可靠性。

PIXE法及其在食品元素分析中的应用

质子荧光分析主要有质子激发X射线荧光分析（Partic Iernduced X-Ray Emission，PIXE）、外束质子X荧光分析和质子显微镜三种形式。凡是配有小型粒子加速器的实验室都可以开展X荧光分析。PIXE法开创于1970年，如今已发展成为一种成熟的多元素分析技术．广泛应用于材料、地质、冶金、生物、医学、考古与环境科学中。

X射线荧光光谱分析的新进展

本文简要介绍伦琴发现X射线100年后(1895～)X射线荧光光谱分析的新进展。随着各种新型探测器Si-PIN、SDD、超导隧道结、微热量计,各种新型激发源从微型X射线管到同步辐射无电子X射线激光及各种新型光学器件(Capillary)的出现,在世纪之交这一阶段X射线荧光光谱分析技术空前地扩展了其应用领域和应用能力。微区分析已可探测到原子数量级,X射线全息术和X射线断层术已可识别单晶中的原子分布和单个生物细胞的图像。预计在新的世纪里X射线荧光光谱技术必将又更加飞速的发展。

钨矿检测中应用X射线荧光光谱分析法的研究

针对钨矿检测中X射线荧光光谱分析法的运用,首先对其进行了介绍,明确该方法形成的原理与应用范围,其次介绍X射线荧光光谱分析法在实际检测中的应用,分析了钨矿检测试验流程,并且得出结论,X射线荧光光谱分析法能够保证检测结果的准确性,是钨矿检测中最为有效的检测方法之一。

上海冬季大气可吸入颗粒物的PIXE研究

为了研究上海冬季大气气溶胶颗粒物的化学特征，2001年12月～2002年1月使用TEOM1400型和2100型空气采样器，采集了市区和郊区19个有代表性采样点的PM2.5和PM10样品．使用质子激发X射线荧光分析方法(HIXE)测定颗粒物中近20种元素．结果发现。除了Ti和P等元素外，绝大多数元素的平均浓度是市区高于郊区．不同采样点的PM2.5/PM10范围为0．32-0．85，平均值为0．60±0．16．富集因子分析表明，上海大气可吸入颗粒物中的元素来源可以分为地壳元素和人为污染元素2类，S、As、Pb、Ni、Mn、Se等污染元素更趋于富集在直径小于2．5μm的细颗粒物中．

应用PIXE技术无损鉴别天青色古钧瓷和古汝瓷

“钧汝不分”之说古已有之,尤其是天青色的汝瓷和钧瓷更是用目测难以区分.本文应用PIXE技术无损测定了7个天青色汝官瓷样品和10个天青色钧官瓷样品胎和釉的主量化学组成,并用多元统计分析方法对数据进行了分析,结果表明:该方法可以把天青色古汝瓷和古钧瓷很好的区分开来.

小型化管激发X射线荧光仪的研制

新一代的小型化管激发X射线荧光测量仪,是为适应地质大调查的需要而研制的。该仪器采用了低功率小型X射线管及35kV高压电源构成的可控X射线源,小型低功耗电致冷Si-PIN半导体探测器,袖珍型计算机为工作平台构成X射线荧光能谱分析系统,根据工作环境的要求,在驻地可直接使用笔记本微机,使其功能强大,直接成图成像及解释。在野外使用掌上电脑,实现仪器的便携化及原位测量。分析元素范围可从S(Z=16)至U(Z=92),检出限为1/106～1/105,可用于地质矿产调查、大比例尺化探测量、环境调查、工业、考古等领域。