费涅尔透镜的焦区场──谱域法与物理光学法的比较

本文分别采用传统的物理光学法（PO）和全被分析的谱域技术（SDT），分析了费涅尔区板（FZP）透镜的焦区场分布。SDT法的计算结果与文献的实验结果一致。通过对PO与SDT两种方法的数值结果比较可知：对单层FZP透镜，PO分析结果的有效性依赖于透镜的焦距与透镜的费涅尔区下限之比，而SDT则具有广泛的适应性。

用改进的全波方法分析圆对称层状贴片结构

本文将矢量Hankel变换与谱域导抗法相结合，改进了一种分析圆对称层状结构的全波方法，使理论建模和数值计算都得以简化。该方法应用于微带圆贴片谐振特性的计算，其结果与文献所载的实验数据相符；将该方法应用于费涅尔区板（FZP）透镜焦区场的计算，论证了双层透镜能增强聚焦作用的设计原理。