基于光学相控阵双周期光场的关联成像

关联成像近年来成为光学成像领域的研究热点,光学相控阵集成度高、成本低和调制速率高等优点非常适合应用于关联成像.本文使用二维独立相位控制的光学相控阵,研究了光学相控阵产生的周期性赝热光场赋予关联成像的新特性:分别在暗室、有相位干扰和有热光噪声的条件下基于双周期光场进行了无分束器的关联成像实验;并利用光学相控阵双周期光场实现了图像拼接.研究结果对于促进关联成像技术的进步、拓展光学相控阵的应用有重要的意义.

基于增强型CCD光场高阶相干度的测量

光场的高阶关联特性是揭示光的统计行为的重要特征。采用传统的HBT(Hanbury-Brown and Twiss)实验模型测量多光子高阶关联时,会受到单光子探测器和分束器数量的限制,测量起来比较复杂。提出了一种利用增强型电荷耦合器件(ICCD)快速测量光场高阶关联的方法。通过改变曝光时间和光照强度(计数率)对赝热光场和相干光场的高阶相干度进行测量和分析。结果表明:在适当的条件下,可以确定光场的高阶相干度。当曝光时间为600 ns、计数率为5.12×10^8 s^-1时,实测赝热光场的2阶和3阶相干度分别为g^(2)T(0)=1.79±0.20,g^(3)T(0)=4.94±0.59。对多达4阶的光场相干度进行了测量,该结果能在理论上得到较好的解释。该实验方法有望应用于某些光源的高阶相干性测量和研究方面,对揭示光场的高阶关联行为具有一定意义。